掃描電鏡

1、鎢燈絲、冷場、熱場掃描電鏡的區(qū)別掃描式電子顯微鏡，其系統(tǒng)設(shè)計由上而下，由電子槍 (Electron Gun) 發(fā)射電子束，經(jīng)過一組磁透鏡聚焦 (Condenser Lens) 聚焦后，用遮蔽孔徑 (Condenser Aperture) 選擇電子束的尺寸(Beam Size)后，通過一組控制電子束的掃描線圈，再透過物鏡 (Objective Lens) 聚焦，打在樣品上，在樣品的上側(cè)裝有訊號接收器，用以擇取二次電子 (Secondary Electron) 或背向散射電子 (Backscattered Electron) 成像。電子槍的必要特性是亮度要高、電子能量散布 (Energy Spread) 要小，目前常用的種類計有三種，鎢(W)燈絲、。

2、實驗十一掃描電鏡樣品制備,選作,掃描電鏡即掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）。主要用于觀察樣品的表面形貌、割裂面結(jié)構(gòu)、管腔內(nèi)表面的結(jié)構(gòu)等。,一、掃描電鏡工作原理：主要是利用樣品表。

3、掃描電鏡的圖像分析,主講：金永中,2010年10月,1分辨率和放大倍數(shù),掃描電鏡分辨率定義為能夠清楚地分辨試樣上最小細節(jié)的能力，通常以清楚地分辨二次電子圖象上兩點或兩個細節(jié)之間的最小距離表示，如上圖示。分辨能力。

4、掃描電鏡技術(shù)TechniquesofScanningElectronMicroscope,一、掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)與成像原理二、掃描電鏡的特點三、掃描電鏡的生物樣品制備技術(shù)（一）樣品的常規(guī)制備方法（二）特殊樣品的制備方法,掃描電鏡技術(shù),掃描電。

5、由于透射電鏡是TE進行成像的，這就要求樣品的厚度必須保證在電子束可穿透的尺寸范圍內(nèi)。為此需要通過各種較為繁瑣的樣品制備手段將大尺寸樣品轉(zhuǎn)變到透射電鏡可以接受的程度。能否直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行。

6、負染技術(shù)陰性反差染色 染色劑不被樣品吸收而是沉淀到樣品四周 用于細菌 病毒 噬菌體 亞細胞成份的檢測 一 染色液的特點1 不和樣品發(fā)生反應(yīng)2 可保護樣品結(jié)構(gòu)3 可提供足夠高的反差4 本身顆粒體積很小2 4 磷鎢酸 pH6 4。

7、1 掃描電鏡微區(qū)成分分析技術(shù) 掃描電鏡的成分分析技術(shù)是20世紀(jì)70年代發(fā)展起來的 并在各個科學(xué)領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用 該項技術(shù)打破了掃描電鏡只作為形態(tài)結(jié)構(gòu)觀察儀器的局限性 使形態(tài)觀察與樣品的化學(xué)元素成分分析結(jié)合起來 從而大大地擴展了它的研究能力 與傳統(tǒng)的化學(xué)和物理分析相比 它具有如下優(yōu)點 1 可以分析小于1 m的樣品中的元素 2 能在微觀尺度范圍內(nèi)同時獲得樣品的形貌 組成分析及其分布形態(tài)等資料 為研究樣。

8、HitachiS 4800型掃描電鏡簡易操作指南 國家納米科學(xué)中心納米檢測實驗室 注意 本文件的目的在于幫助用戶記憶培訓(xùn)的內(nèi)容 不能代替培訓(xùn) 有意自己操作掃描電鏡的用戶請到現(xiàn)場參加培訓(xùn) 為了把此文件的篇幅限制在一個合理程度 文件內(nèi)容難于面面俱到 歡迎各位對本文件的內(nèi)容提出寶貴意見 S 4800掃描電鏡外觀 S 4800掃描電鏡剖面圖 S 4800主要技術(shù)參數(shù) 掃描電鏡使用時的安全注意事項 掃描電鏡。

9、掃描電鏡的原理及應(yīng)用 一 掃描電鏡基本原理 掃描電子顯微鏡的成像原理 是以類似電視攝影顯像的方式 利用細聚焦高能電子束在樣品表面掃描時激發(fā)出來的各種物理信號來調(diào)制成像的 早在1935年 德國的Knoll就提出了掃描電鏡的工作原理 1938年 VonArdenne開始進行實驗研究 1942年 Zworykin Hill制成了第一臺實驗室用的掃描電鏡 但真正作為商品 那是1965年的事 70年代開始。

10、SIRION場發(fā)射掃描電鏡操作規(guī)程 一、開機1、首先檢查循環(huán)水系統(tǒng)，壓力顯示約4.5，溫度顯示約1118度，為正常范圍。2、檢查不間斷電源的“LINE”，“INV”指示燈亮，上部6只燈僅一只亮是為正常。3、開電鏡電腦（白色機箱）的電源，通過密碼進入WINDOWS后，先啟動“SCS”，然后啟動“Microscope Control”。二、操作過程1、有關(guān)樣品的要求：需用電鏡。

11、掃描電鏡在材料表面形貌觀察及成分分析中的應(yīng)用一、實驗?zāi)康?）了解掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)和工作原理，掌握掃描電鏡的功能和用途；2）了解能譜儀的基本結(jié)構(gòu)、原理和用途；3）了解掃描電鏡對樣品的要求以及如何制備樣品。二、實驗原理（一） 掃描電鏡的工作原理和結(jié)構(gòu)1. 掃描電鏡的工作原理掃描電鏡是對樣品表面形態(tài)進行測試的一種大型儀器。當(dāng)具有一定能量的入射電子束轟擊樣品表面時。

12、掃描電鏡的結(jié)構(gòu)及典型試樣形貌觀察,燕山大學(xué)材料學(xué)院2008.12,一實驗?zāi)康?1.了解掃描電鏡的用途、結(jié)構(gòu)及基本原理；2.了解掃描電鏡的樣品制備；3.上機操作，利用二次電子信號觀察樣品形貌。,KYKY-2800掃描電鏡掃描電子顯微鏡的主要性能放大倍數(shù)電子束在樣品表面掃描的幅度為As，在熒光屏陰極射線同步掃描的幅度為Ac，則掃描電鏡的放大倍數(shù)為:M=Ac/As。目前商品化的掃描電鏡放大倍數(shù)可以從20。

13、掃描電子顯微鏡（Scanning Electronic Microscopy, SEM） 掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是，有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連續(xù)可調(diào)；有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu)；試樣制備簡單。 目前的掃描電鏡都配有X。

14、HUNAN UNIVERSITY 姓名： 掃描電鏡實驗報告 姓名： 高子琪 學(xué)號： 201214010604 一.實驗?zāi)康?1. 了解掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)與原理； 2. 掌握掃描電鏡樣品的準(zhǔn)備與制備方法； 3. 掌握掃描電鏡的基本操作并上機操作拍攝二次電子像； 4. 了解掃描電鏡圖片的分析與描述方法。 二實驗設(shè)備及樣品 1. 實驗儀器：D5000。

15、三：電子束與樣品的相互作用,SEM能顯示各種圖像的信息是由于電子束與樣品的相互作用而產(chǎn)生的各種信號。選擇參數(shù)合適的電子束照射到樣品上，形成圖像的信息來源于樣品上電子束照射的部位，理想情況是信息取樣面積應(yīng)該等于電子束的直徑，但是實際上并非如此。.散射.相互作用區(qū).背散射電子.二次電子.特征射線,散射是由于電子束與樣品的原子和電子相互作用而產(chǎn)生的電子束路徑或能量的變化，或者兩者同時發(fā)生。截。

16、雙束掃描電鏡（HeliosNanolab 600i）使用手冊 實驗前，必須用超薄切片觀察樣品的質(zhì)量。 1. 先觀察樣品并設(shè)計一下樣品切割拍照方案 2. Link樣品 先用SEM低倍找到樣品再用高倍聚焦樣品再回到低倍點link使工作距離變到大約4(此時可以Pt沉積顯示是綠色的) 3. 調(diào)整樣品的位置 在FIB窗口觀察：調(diào)整樣品R，傾斜樣品T，使樣品與FIB垂直（看不到白色側(cè)面） 4. Pt沉積：。

17、掃描電鏡和電子探針在 材料科學(xué)中的應(yīng)用,現(xiàn)代測試技術(shù)課題論文,指導(dǎo)老師：bbgcka 班 級：ssrhjh 姓 名：trsyrw,目 錄,1、背景 2、工作原理 （1）掃描電鏡的工作原理 （2）電子探針的工作原理 3、應(yīng)用 （1）掃描電鏡的應(yīng)用 （2）電子探針的應(yīng)用 4、參考資料,1、背 景,掃描電子顯微鏡和電子探針由于其制樣簡單、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬、圖像的分辨率高、景深大等特點，故被廣泛地應(yīng)用。