《掃描電鏡的結(jié)構(gòu)原理及其操作使用.ppt》由會(huì)員分享,可在線閱讀,更多相關(guān)《掃描電鏡的結(jié)構(gòu)原理及其操作使用.ppt(34頁(yè)珍藏版)》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。
1、掃描電鏡,的結(jié)構(gòu)、原理及其操作使用,一、實(shí)驗(yàn)?zāi)康?了解掃描電鏡的工作原理及構(gòu)造。 初步學(xué)習(xí)Sirion200場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡的操作方法。 利用二次電子像對(duì)斷口形貌進(jìn)行觀察。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,優(yōu)點(diǎn): 景深長(zhǎng)、圖像富有立體感; 圖像的放大倍率可在大范圍內(nèi)連續(xù)改變,而 且分辨率高; 樣品制備方法簡(jiǎn)單,可動(dòng)范圍大,便于觀察; 樣品的輻照損傷及污染程度較?。?可實(shí)現(xiàn)多功能分析。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,構(gòu)成: 電子光學(xué)系統(tǒng),包括電子槍、電磁透鏡和掃描線圈等; 機(jī)械系統(tǒng),包括支撐部分、樣品室; 真空系統(tǒng); 樣品所產(chǎn)生信號(hào)的收集、處理和顯示系統(tǒng)。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,圖1 Sirion 200掃描電鏡外觀照片
2、,二、掃描電鏡的構(gòu)造,圖2 掃描電子顯微鏡構(gòu)造示意圖 (a)系統(tǒng)方框圖,二、掃描電鏡的構(gòu)造,圖2 掃描電子顯微鏡構(gòu)造示意圖 (b) 電子光路圖,二、掃描電鏡的構(gòu)造,電子光學(xué)系統(tǒng)包括: 電子槍 電磁聚光鏡 掃描線圈 光闌組件,二、掃描電鏡的構(gòu)造,電子槍 為了獲得較高的信號(hào)強(qiáng)度和掃描像,由電子槍發(fā)射的掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。 常用的電子槍有三種:普通熱陰極三極電子槍、六硼化鑭陰極電子槍和場(chǎng)發(fā)射電子槍,其性能如表1所示。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,表1 幾種類型電子槍性能比較,二、掃描電鏡的構(gòu)造,(a)熱電子發(fā)射型電子槍 (b)熱陰極場(chǎng)發(fā)射電子槍 圖3 電子槍構(gòu)造示意圖,
3、二、掃描電鏡的構(gòu)造,電磁聚光鏡 其功能是把電子槍的束斑逐級(jí)聚焦縮小,因照射到樣品上的電子束光斑越小,其分辨率就愈高。 掃描電鏡通常都有三個(gè)聚光鏡,前兩個(gè)是強(qiáng)透鏡,縮小束斑,第三個(gè)透鏡是弱透鏡,焦距長(zhǎng),便于在樣品室和聚光鏡之間裝入各種信號(hào)探測(cè)器。 為了降低電子束的發(fā)散程度,每級(jí)聚光鏡都裝有光闌。為了消除像散,裝有消像散器。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,掃描線圈 其作用是使電子束偏轉(zhuǎn),并在樣品表面作有規(guī)則的掃動(dòng),電子束在樣品上的掃描動(dòng)作和在顯像管上的掃描動(dòng)作由同一掃描發(fā)生器控制,保持嚴(yán)格同步。 當(dāng)電子束進(jìn)入偏轉(zhuǎn)線圈時(shí),方向發(fā)生轉(zhuǎn)折,隨后又由下偏轉(zhuǎn)線圈使它的方向發(fā)生第二次轉(zhuǎn)折,再通過(guò)末級(jí)
4、透鏡的光心射到樣品表面。在上下偏轉(zhuǎn)線圈的作用下,在樣品表面掃描出方形區(qū)域,相應(yīng)地在樣品上也畫出一副比例圖像。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,掃描電鏡的倍率放大是通過(guò)改變電子束偏轉(zhuǎn)角度來(lái)實(shí)現(xiàn)放大倍率的調(diào)節(jié)。因?yàn)橛^察用的熒光屏尺寸是一定的,所以電子束偏轉(zhuǎn)角越小,在試樣上掃描面積越小,其放大倍率M越大。 放大倍率一般是2020104倍。,,二、掃描電鏡的構(gòu)造,(a)光柵掃描 (b)角光柵掃描 圖4 電子束在樣品表面的掃描方式,二、掃描電鏡的構(gòu)造,機(jī)械系統(tǒng)包括: 支撐部分 樣品室 樣品室中有樣品臺(tái)和信號(hào)探測(cè)器,樣品臺(tái)除了能夾持一定尺寸的樣品,還能使樣品作平移、傾斜、轉(zhuǎn)動(dòng)等運(yùn)動(dòng),同時(shí)樣品還可在樣品臺(tái)上加熱、
5、冷卻和進(jìn)行力學(xué)性能實(shí)驗(yàn)(如拉伸和疲勞)。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,真空系統(tǒng) 如果真空度不足,除樣品被嚴(yán)重污染外,還會(huì)出現(xiàn)燈絲壽命下降,極間放電等問(wèn)題。 對(duì)于像Sirion200型這種場(chǎng)發(fā)射燈絲掃描電鏡而言,樣品室的真空一般不得低于110-5Pa,它由機(jī)械真空泵和分子泵來(lái)實(shí)現(xiàn);電鏡鏡筒和燈絲室的真空不得低于410-7Pa,它由離子泵來(lái)實(shí)現(xiàn)。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,信號(hào)的收集、處理和顯示系統(tǒng) 樣品在入射電子束作用下會(huì)產(chǎn)生各種物理信號(hào),有二次電子、背散射電子、特征X射線、陰極熒光和透射電子。 不同的物理信號(hào)要用不同類型的檢測(cè)系統(tǒng)。它大致可分為三大類,即電子檢測(cè)器、陰 極熒光檢測(cè)器和X射線檢
6、測(cè)器。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,常用的檢測(cè)系統(tǒng)為閃爍計(jì)數(shù)器,它位于樣品上側(cè),由閃爍體,光導(dǎo)管和光電倍增器所組成,如圖5所示。,二、掃描電鏡的構(gòu)造,圖5 電子檢測(cè)器,三、掃描電鏡的基本原理,電子槍的熱陰極或場(chǎng)發(fā)射陰極發(fā)出的電子受陽(yáng)極電壓(1-50kV)加熱并形成筆尖狀電子束。經(jīng)過(guò)二或三個(gè)(電)磁透鏡的作用,在樣品表面會(huì)聚成一個(gè)直徑可小至10-100 的細(xì)束,攜帶束流量為10-1010-12A。在末透鏡上部的掃描線圈作用下,細(xì)電子束在樣品表面作光柵狀掃描,即從左上方向右上方掃,掃完一行再掃其下相鄰的第二行,直到掃完一幅(或幀)。如此反復(fù)運(yùn)動(dòng)。,四、掃描電鏡的調(diào)整,電子束合軸 放入試樣 圖像調(diào)整,四、掃
7、描電鏡的調(diào)整,電子束合軸 調(diào)整電子束對(duì)中(合軸)的方法有機(jī)械式和電磁式。 機(jī)械式是調(diào)整合軸螺釘 電磁式則是調(diào)整電磁對(duì)中線圈的電流,以此移動(dòng)電子束相對(duì)光路中心位置達(dá)到合軸目的,四、掃描電鏡的調(diào)整,放入試樣 將試樣固定在試樣盤上,并進(jìn)行導(dǎo)電處理,使試樣處于導(dǎo)電狀態(tài)。將試樣盤裝入樣品更換室,預(yù)抽三分鐘,然后將樣品更換室閥門打開(kāi),將試樣盤放在樣品臺(tái)上,在抽出試樣盤的拉桿后關(guān)閉隔離閥。,四、掃描電鏡的調(diào)整,高壓選擇 聚光鏡電流的選擇 光闌選擇 聚焦與像散校正 亮度與對(duì)比度的選擇,四、掃描電鏡的調(diào)整,高壓選擇 掃描電鏡的分辨率隨加速電壓增大而提高,但其襯度隨電壓增大反而降低,并且加速電壓過(guò)高
8、污染嚴(yán)重,所以一般在20kV下進(jìn)行初步觀察,而后根據(jù)不同的目的選擇不同的電壓值。,四、掃描電鏡的調(diào)整,聚光鏡電流的選擇 聚光鏡電流與像質(zhì)量有很大關(guān)系,聚光鏡電流越大,放大倍數(shù)越高。同時(shí),聚光鏡電流越大,電子束斑越小,相應(yīng)的分辨率也會(huì)越高。,四、掃描電鏡的調(diào)整,光闌選擇 光闌孔一般是400、300、200、100四檔,光闌孔徑越小,景深越大,分辨率也越高,但電子束流會(huì)減小。一般在二次電子像觀察中選用300或200的光闌。,四、掃描電鏡的調(diào)整,聚焦與像散校正 聚焦分粗調(diào)、細(xì)調(diào)兩步。由于掃描電鏡景深大、焦距長(zhǎng),所以一般采用高于觀察倍數(shù)二、三檔進(jìn)行聚焦,然后再回過(guò)來(lái)進(jìn)行觀察和照像。即所
9、謂“高倍聚焦,低倍觀察”。 像散校正主要是調(diào)整消像散器,使其電子束軸對(duì)稱直至圖像不飄移為止。,四、掃描電鏡的調(diào)整,亮度與對(duì)比度的選擇 二次電子像的對(duì)比度受試樣表面形貌凸凹不平而引起二次電子發(fā)射數(shù)量不同的影響。反差與亮度的選擇則是當(dāng)試樣凸凹嚴(yán)重時(shí),襯度可選擇小一些,以達(dá)明亮對(duì)比清楚,使暗區(qū)的細(xì)節(jié)也能觀察清楚。也可以選擇適當(dāng)?shù)膬A斜角,以達(dá)最佳的反差。,五、樣品的觀察,形貌襯度二次電子像及其襯度原理 表面形貌襯度是利用對(duì)樣品表面形貌變化敏感的物理信號(hào)作為調(diào)制信號(hào)得到的一種像襯度。二次電子像分辨率比較高,所以適用于顯示形貌襯度。,五、樣品的觀察,典型斷口形貌觀察 韌窩斷口 穿晶解理斷口 脆性沿晶斷口 疲勞斷口,六、實(shí)驗(yàn)報(bào)告要求,簡(jiǎn)要說(shuō)明掃描的原理及電鏡各部分的作用。 根據(jù)你的理解,舉例說(shuō)明掃描電鏡的應(yīng)用。 根據(jù)實(shí)驗(yàn)觀察的斷口特征,簡(jiǎn)述韌窩斷口、穿晶解理斷口、脆性沿晶斷口、疲勞斷口的典型形貌特征。,END!,