軟件測(cè)試質(zhì)量指標(biāo)算法(總結(jié)).docx

《軟件測(cè)試質(zhì)量指標(biāo)算法(總結(jié)).docx》由會(huì)員分享，可在線閱讀，更多相關(guān)《軟件測(cè)試質(zhì)量指標(biāo)算法(總結(jié)).docx（2頁(yè)珍藏版）》請(qǐng)?jiān)谘b配圖網(wǎng)上搜索。

1 軟件質(zhì)量指標(biāo) 1.1 需求功能點(diǎn)覆蓋率 計(jì)算測(cè)試用例總數(shù)之和除以與之一一對(duì)應(yīng)的功能點(diǎn)數(shù)之和，主要查看是否有功能點(diǎn)遺漏測(cè)試的情況。用例覆蓋需求矩陣，一個(gè)需求對(duì)應(yīng)多個(gè)功能點(diǎn)。 　　需求覆蓋率=∑測(cè)試用例數(shù)（個(gè)）/∑功能點(diǎn)（個(gè)）=1055/147=7.18 1.2 用例執(zhí)行覆蓋率 　　計(jì)算測(cè)試用例執(zhí)行總數(shù)除以與之一一對(duì)應(yīng)的測(cè)試數(shù)之和，主要查看是否有測(cè)試用例執(zhí)行遺漏或有效的情況。 　　用例執(zhí)行覆蓋率=∑執(zhí)行的測(cè)試用例個(gè)數(shù)（個(gè)）/∑測(cè)試用例個(gè)數(shù)（個(gè)）*100% 1.3 缺陷探測(cè)率 　　計(jì)算內(nèi)部發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)除以內(nèi)部發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)與用戶發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)之和，主要查看內(nèi)部發(fā)現(xiàn)缺陷的能力。說明：缺陷探測(cè)率越高，即內(nèi)部發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)越多，發(fā)布后客戶發(fā)現(xiàn)的bug數(shù)就越少，質(zhì)量成本就越低。 　　缺陷探測(cè)率=內(nèi)部發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)（個(gè)）/（內(nèi)部發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)（個(gè)）+用戶發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)（個(gè)））*100% 　　缺陷數(shù)=636（有效），用戶發(fā)現(xiàn)缺陷數(shù)=1（當(dāng)前） 缺陷探測(cè)率=636/637=99.84% 1.4 有效缺陷率 　　計(jì)算被開發(fā)人員確認(rèn)的BUG數(shù)總和除于本人上報(bào)BUG的總和，可用于查看測(cè)試人員的個(gè)人測(cè)試質(zhì)量，也可用于查看整個(gè)測(cè)試組的測(cè)試質(zhì)量。 　　無(wú)效BUG狀態(tài)包括：?jiǎn)栴}重復(fù)、不是問題、不可復(fù)現(xiàn)狀態(tài)。這項(xiàng)指標(biāo)用于考察測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的、被確認(rèn)為缺陷的缺陷數(shù)高低或者百分比，數(shù)和比率越高測(cè)試質(zhì)量越高。 　　注意：由于系統(tǒng)框架根本性的、初始化參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤引發(fā)的、錯(cuò)誤數(shù)據(jù)、錯(cuò)誤環(huán)境等而開發(fā)人員因無(wú)法修正、可以通過改變環(huán)境而無(wú)需修改程序、重新導(dǎo)入數(shù)據(jù)、再次發(fā)布而解決的BUG為有效BUG 　　有效缺陷率=測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的有效缺陷數(shù)（個(gè)）/測(cè)試人員發(fā)現(xiàn)的總?cè)毕輸?shù)（個(gè)）*100%=636/689=92.31% 1.5 用例執(zhí)行效率 　　計(jì)算測(cè)試人員執(zhí)行的用例數(shù)除以執(zhí)行測(cè)試的時(shí)間，主要查看測(cè)試人員執(zhí)行測(cè)試的效率 　　說明：此指標(biāo)的統(tǒng)計(jì)需要有一定的前提條件：用例的執(zhí)行步驟相對(duì)來說分布較均勻，執(zhí)行時(shí)間在一個(gè)較長(zhǎng)的時(shí)間段內(nèi) 　　用例執(zhí)行效率=∑測(cè)試人員執(zhí)行的用例數(shù)（個(gè)）/∑執(zhí)行用例的時(shí)間（小時(shí)） 1.6 缺陷發(fā)現(xiàn)率 　　計(jì)算測(cè)試人員各自發(fā)現(xiàn)的缺陷數(shù)總和除于各自所花費(fèi)的測(cè)試時(shí)間總和。 　　缺陷發(fā)現(xiàn)率=∑提交缺陷數(shù)（個(gè)）/∑執(zhí)行測(cè)試的有效時(shí)間（小時(shí)） 　　以第18輪功能測(cè)試為例： 　　用例執(zhí)行效率=10.17 　　缺陷發(fā)現(xiàn)率=36.67% 1.7 缺陷覆蓋率 　　計(jì)算缺陷與測(cè)試用例的比率，用來衡量測(cè)試用例覆蓋缺陷的能力。 　　缺陷覆蓋率=∑缺陷個(gè)數(shù)/∑測(cè)試用例條數(shù)