ICT 培訓(xùn)資料PPT課件

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1、授課：XXX1 ICT培訓(xùn)教材培訓(xùn)教材授課：XXX2目錄目錄一一.ICT的基本認(rèn)識(shí)的基本認(rèn)識(shí)二二ICT的測(cè)試原理的測(cè)試原理三三ICT測(cè)試程序的制作測(cè)試程序的制作四四ICT誤測(cè)分析誤測(cè)分析五五ICT的轉(zhuǎn)機(jī)流程的轉(zhuǎn)機(jī)流程六六.ICT程序調(diào)試時(shí)注意事項(xiàng)程序調(diào)試時(shí)注意事項(xiàng)七七ICT常見(jiàn)故障檢修常見(jiàn)故障檢修八八. 文件放置指引文件放置指引九九.覆蓋率的定義覆蓋率的定義授課：XXX3一一.ICT的基本認(rèn)識(shí)的基本認(rèn)識(shí)授課：XXX4 1. ICT即在線測(cè)試儀（In Circuit Tester）,是一大堆高級(jí)電表的組合。但它能對(duì)在線電路板上的元件測(cè)試進(jìn)行有效的隔 離(Guarding),而萬(wàn)用表則不能.所以,

2、萬(wàn)用表能測(cè)的它也能測(cè),萬(wàn) 用表不能測(cè)的,它可能能測(cè). 2. ICT能測(cè):Open/Short;R;C;L;D;Q;IC等. 3. ICT與ATE的區(qū)別: ICT只作靜態(tài)測(cè)試,而ATE則作動(dòng)態(tài)測(cè)試.即ICT對(duì)被測(cè)板不通電,而ATE要對(duì)被測(cè)板通電才能測(cè)試,授課：XXX5二二ICT的測(cè)試原理的測(cè)試原理授課：XXX6 當(dāng)Rx有旁路（R1)時(shí)， Ix=Is-I1Is 故：Vx/IsRx此時(shí)取A 點(diǎn)電位Va, 送至C 點(diǎn), 令Vc=Va, 則： I1=(Va-Vc)/R1=0, Is=Ix 從而： Vx/Is=Rx如圖:Vx+-IsIxI1ABCICTVaVbVcWhen Vc=Va I1=(Va-Vc)

3、/R1=0RxR1+-U?326741. Guarding(隔離隔離)的實(shí)現(xiàn)的實(shí)現(xiàn)：授課：XXX7 2. 量測(cè)電阻量測(cè)電阻R： (1).單個(gè)單個(gè)R(mode D1,D2): 直流定電流源: 利用Vx=IsRx（歐姆定律）， 則Rx=Vx/Is. 信號(hào)源Is取恒流 （0.1uA5mA）,量回Vx即可算出Rx值.如下圖一.+-Vx=?IsRx+-Vs=0.2VIxRxC圖一圖一 圖二圖二 (2). R/C(mode V5,CV): 直流定電壓源: 信號(hào)源Vs取恒壓 （0.2V），量回 Ix，則Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix，算出Rx值.如上圖二.授課：XXX8(3).R/L(mode P1,P2

4、,P3,P4,P5): 相位法測(cè)試:信號(hào)源取交流電壓源Vs，籍相位法輔助.|Y|Cos=YRx=1/Rx,并|Y|=Ix/Vs故：Rx=1/|Y|Cos 如下圖:VsIxRxL授課：XXX93. 量測(cè)電容量測(cè)電容C&電感電感L： (1).單個(gè)單個(gè)C&L（Mode A1.A2.A3.A4.A5 ）： 交流定電壓:交流電壓源一定Vs,Vs/Ix=Zc=1/2fCx,求得：Cx=Ix/2fVs.Vs/Ix=Zl=2fLx, 求得：Lx=Vs/2fIx. 注:3UF以上電容用(Model DC) VsIxIxVsCxLx授課：XXX10(2).C/R或或L/R:(P1.P2.P3.P4.P5)相位法測(cè)

5、試: 1. |Y|Sin=|Ycx|,即CxSin=Cx 求得：Cx=CxSin (Cx=Ix/2fVs) 2.|Y|Sin=|Ycx|,即Sin/Cx=1/Cx 求得：Lx=Lx/Sin(Lx=Vs/2fIx) 如下圖:VsIxCxRIxVsLxR授課：XXX114. 量測(cè)量測(cè)PN結(jié)：結(jié)：（D、Q、IC） 信號(hào)源0-10V/3mA or 30mA可程式電壓源,量PN結(jié)導(dǎo)通電壓 一般順向電壓0.7V;反向電壓2.2V.授課：XXX12這里主要講下三極管的三端量測(cè)法授課：XXX13晶體管做三端點(diǎn)量測(cè)時(shí) ,假設(shè)晶體管為NPN type,實(shí)際值(ACTval)設(shè)定值為DA1所送電壓，標(biāo)準(zhǔn)值(STDv

6、al)設(shè)定值即為晶體管的VCES電壓值。改變實(shí)際值(ACTval)(從0.5V往上增加) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通(測(cè)試值應(yīng)低于0.2V)。如果晶體管為PNP type，改變實(shí)際值(ACTval)欄的電壓(從4.5V往下減少) ，直到晶體管飽和導(dǎo)通（測(cè)試值應(yīng)低0.2V）。授課：XXX14 5. 量測(cè)量測(cè)Open/Short： 即以阻抗判定：先對(duì)待測(cè)板上所有Pin點(diǎn)進(jìn)行學(xué)習(xí),R20即歸為Short Group，然后Test時(shí)進(jìn)行比較，R80判為Open.短路1080開(kāi)路20學(xué)習(xí)參考點(diǎn)授課：XXX15 6.低壓測(cè)試方法低壓測(cè)試方法(LV) 低壓功能測(cè)試是允許你供應(yīng)某一定電壓到零件兩端，同時(shí)測(cè)量零件兩端

7、的電壓，如測(cè)電容反向、Zener二極管、或IC都可使用此法。 假設(shè)我們要測(cè)一個(gè)6V的穩(wěn)壓二極管,我們可以在實(shí)際值中填入9V,標(biāo)準(zhǔn)值中填入6,當(dāng)實(shí)際植的單位是V,而標(biāo)準(zhǔn)值不是0時(shí),系統(tǒng)會(huì)送出一個(gè)9V電壓至穩(wěn)壓二極管兩端,然后量測(cè)穩(wěn)壓二極管的電壓是否為5.6V,從而判定好壞.LV模式最大送出電壓為10V授課：XXX16 7.高壓測(cè)試方法高壓測(cè)試方法(HV) 高壓測(cè)試的原理與設(shè)定方法與低壓相似,只是在模式里選(HV),高壓最大送出電壓為50V授課：XXX17跳線測(cè)試跳線測(cè)試(Jumper Test) 跳線測(cè)試(Jumper Test)采用一個(gè)比較器硬件線路，因此，測(cè)試的結(jié)果只有、四個(gè)值，單位以JP表

8、示，其代表的意義如下： JP： 10 歐姆(ohm) JP： 10歐姆(ohm)， 20歐姆( ohm) JP： 20歐姆(ohm)， 80歐姆( ohm) JP： 80歐姆(ohm) 授課：XXX18三三ICT測(cè)試程序的制作測(cè)試程序的制作授課：XXX19 （一）準(zhǔn)備好2PCS空PCB板，1PCS實(shí)板，1份BOM及原理圖（邦線圖），提供給供應(yīng)商分析 （二）供應(yīng)商根據(jù)我們的要求制作測(cè)試機(jī)架及原始程序 （三）根據(jù)BOM，電路圖，針點(diǎn)圖進(jìn)行相對(duì)應(yīng)的測(cè)試程序的調(diào)試授課：XXX201單板的調(diào)試 按“Ctrl+E”進(jìn)入元件編輯界面 先熟悉一下界面授課：XXX21對(duì)照壞機(jī)故障，加深印象 授課：XXX22授課

9、：XXX23A 元件（元件（Component）的調(diào)試）的調(diào)試(R,C,L,D,Q) 電阻（電阻（R）Debug:(1).根據(jù)R的大小,系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整測(cè)試電流大小. F9:單步測(cè)試 Alt+F9:整頁(yè)測(cè)試 F5:對(duì)調(diào)AB點(diǎn) F10自動(dòng)Guarding. Alt+H:查看串連元件.Alt+J:查看并聯(lián)元件. (2).R/C:Model(CV&V5)(3).R/D:Model(D2&V5).(4).R/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) 授課：XXX24電容（電容（C）Debug: (1).單個(gè)電容3uf以上信號(hào)源既可用交流也可用直流.300uf以上只可用DC模式.470pf以下用A4&

10、A5; 470pf3uf用A1.A2.A3模式. (2).C/R:Model(A1.A2.A3.A4.A5) (3).C/L:Model(P1.P2.P3.P4.P5) (4).C/D:Model(DC&A1A5)470PF3UF300UFA1.A2.A3.A4.A5DCDC.A1.A2授課：XXX25D&Q&IC的的Debug (1).單個(gè)D&Q&IC正向:0.7V左右;反向2V以上. (2).D/C:Model(LV低電壓) (3).D/D:Model(CM,除正向?qū)y(cè)試,還需做電流測(cè)試 (4).Zerer:需作反向電流測(cè)試.10V48V的Zerer可用 HV(高電壓)測(cè)試. (5).Q

11、的CE極:需判斷Q的類(lèi)型(PNP&NPN) 為了使CE極飽和導(dǎo)通,NPN偏置電壓為0.7V1V; PNP偏置電壓為 4.5V2V;反向在0.5V以上.授課：XXX26 B. IC的學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí) a 按“Ctrl+I”進(jìn)入IC編輯界面 按F4選出IC相對(duì)應(yīng)的參考地（GND）或電源（VCC） 按F3保存后退出b.進(jìn)入元件編輯界面,然后按”ALT+I進(jìn)行保護(hù)二極體的學(xué)習(xí),根據(jù)提示,按測(cè)試要求選擇對(duì)話框,完成IC的自動(dòng)學(xué)習(xí)并保存注意:IC的參考點(diǎn)GND,VCC必須選對(duì),檢查IC腳位是否和測(cè)試針點(diǎn)相對(duì)應(yīng),否則將產(chǎn)生錯(cuò)誤的程序G NDIC腳針點(diǎn)授課：XXX27C. OPEN/SHORT的學(xué)習(xí)的學(xué)習(xí)在測(cè)試界面

12、按CTRL+L,電腦將提示放入好板并進(jìn)行學(xué)習(xí)，學(xué)習(xí)后保存退出注意：系統(tǒng)只會(huì)針對(duì)有測(cè)試點(diǎn)的網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行學(xué)習(xí)。當(dāng)單板程序調(diào)試穩(wěn)定后，我們就可以產(chǎn)生多連板啦！授課：XXX282多連板的產(chǎn)生多連板的產(chǎn)生A 在測(cè)試界面單擊設(shè)定，選擇“產(chǎn)生多連板程序”命令將彈出以下對(duì)話框你只用根據(jù)你的要求填入數(shù)字就可以啦比如要做一個(gè)8連板的程序，你就填入4-2，到時(shí)電腦將自動(dòng)產(chǎn)生一個(gè)8連板的程序授課：XXX29B 接下來(lái)將彈出一個(gè)對(duì)話框，提示輸入第二塊板的最小針點(diǎn)號(hào)對(duì)照針點(diǎn)圖找到第二塊的最小針點(diǎn)，填入對(duì)話框在下面對(duì)話框里填入0授課：XXX30接下來(lái)是選擇新文檔存貯的路徑，假如默認(rèn)的話，文件將產(chǎn)生一個(gè)新的程序并保存在原文件夾中

13、，不用擔(dān)心會(huì)把原單板程序覆蓋最后把程序保存，一個(gè)完整的程序就完成啦！假如還有個(gè)別不穩(wěn)定的項(xiàng)目，參考前面調(diào)試的方法，Debug直到穩(wěn)定授課：XXX31四四ICT誤測(cè)分析誤測(cè)分析 授課：XXX32 1. ICT無(wú)法測(cè)試部分： 記憶體IC（EPROM、SRAM、DRAM） 并聯(lián)大10倍以上大電容的小電容 并聯(lián)小20倍以上小電阻的大電阻 單端點(diǎn)之線路斷線 D/L，D無(wú)法量測(cè) (6). 跳線并連 (7)IC之功能測(cè)試.2. PCB之測(cè)點(diǎn)或過(guò)孔綠油未打開(kāi)，或PCB吃錫不好。3. 壓床壓入量不足。探針壓入量應(yīng)以1/2-2/3為佳。4經(jīng)過(guò)免洗制程的PCB板上松香致探針接觸不良。5PCB板定位柱松動(dòng)，造成探針觸

14、位偏離焊盤(pán)。6治具探針不良損壞。7. 零件廠牌變化（可放寬+-%，IC可重新 Learning）。8. 治具未Debug好（再進(jìn)行Debug）。9. ICT本身故障。授課：XXX33五五ICT的轉(zhuǎn)機(jī)流程的轉(zhuǎn)機(jī)流程授課：XXX341將待測(cè)Model 的機(jī)架準(zhǔn)備好. 2將紅外線保護(hù)開(kāi)關(guān)拔至OFF位置,依次序取下原測(cè)試機(jī)架上模和下模.的34Pin排線紅外線保護(hù)開(kāi)關(guān)64Pin排線授課：XXX353將待測(cè)機(jī)架放入,對(duì)好上,下模位置并固定好,再依次序插好34Pin排線固定夾具螺絲64pin排線授課：XXX364.固定好機(jī)架后,放一待測(cè)板在機(jī)架上,再調(diào)整行程控制感應(yīng)開(kāi)關(guān),使上模,待測(cè)板,下模三者充分接觸好后

15、,再固定好感應(yīng)開(kāi)關(guān).行程控制開(kāi)關(guān)授課：XXX376.將紅外線保護(hù)開(kāi)關(guān)拔至ON位置,在D:目錄下調(diào)出待測(cè)板的測(cè)試程序.紅外線保護(hù)開(kāi)關(guān)試測(cè)試5-10片待測(cè)板,PASS后交由測(cè)試員操作授課：XXX38六六.ICT程序調(diào)試時(shí)注意事項(xiàng)程序調(diào)試時(shí)注意事項(xiàng)授課：XXX39換上新機(jī)架時(shí)換上新機(jī)架時(shí),程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象程序出現(xiàn)不穩(wěn)定的現(xiàn)象,這時(shí)我們需作程這時(shí)我們需作程式調(diào)整式調(diào)整,但需注意如下幾項(xiàng)但需注意如下幾項(xiàng): 1 首先要確定測(cè)試針是否良好,測(cè)試點(diǎn)是否接觸良好,元件是否假焊,漏料,錯(cuò)料等不良. 2 按“Ctrl +E”進(jìn)入元件編輯,再按“Alt +R” 跳至測(cè)試不良項(xiàng),按F9進(jìn)行當(dāng)前項(xiàng)測(cè)試. 3 調(diào)整程式

16、時(shí),要采用對(duì)比方式進(jìn)行,即用多塊板進(jìn)行對(duì)比調(diào)試. 4 調(diào)試時(shí),只能在模式(MD)(光標(biāo)移至此欄)按Space 進(jìn)行選擇,檔位進(jìn) 行 選 擇 (光標(biāo)移至此欄)按Space 進(jìn)行選擇,延遲時(shí)間,A.B 點(diǎn)對(duì)調(diào)(F5)加隔離點(diǎn)(F10) 五項(xiàng)中進(jìn)行調(diào)試.授課：XXX40 5 必要時(shí),可調(diào)整上限,下限及標(biāo)準(zhǔn)植. 6 PF級(jí)電容調(diào)試時(shí),不可改動(dòng)標(biāo)準(zhǔn)值及實(shí)際值,只作雜散電容補(bǔ)償調(diào)整,使用 “Alt+Y ” 自動(dòng)補(bǔ)償 7 級(jí)電阻,測(cè)試時(shí)不穩(wěn)定時(shí),可根據(jù)實(shí)際情況作跳線測(cè)試,即實(shí)際值欄改為 “JP” 測(cè)試, JP標(biāo)準(zhǔn): 1JP10 ; 102JP 20 ; 20 3JP 80 . 8 電感測(cè)試不穩(wěn)定時(shí),也可作跳

17、線測(cè)試,其方法與 級(jí)電阻設(shè)定相同,也可用頻率 (A2/A3/A4/A5) 進(jìn)行調(diào)試. 如遇電感并聯(lián)電容.電阻則用(P1/P2/P3/P4/P5) 模式進(jìn)行調(diào)試授課：XXX41七七ICT常見(jiàn)故障檢修常見(jiàn)故障檢修授課：XXX421系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板，開(kāi)關(guān)板的偵測(cè) A打開(kāi)JET下的Jet300a.dat文件進(jìn)行系統(tǒng)測(cè)試 如果是電阻，二極管，三極管壞或不穩(wěn)，多為DC板故障 如果是電容壞或不穩(wěn)，多為AC板故障 兩者都有，則有可能是系統(tǒng)板或自檢板的故障 B打開(kāi)下圖中的自我測(cè)試授課：XXX43將會(huì)出現(xiàn) 其中MEAS TEST 就是系統(tǒng)板，自檢板，DC板，AC板 的檢測(cè) RELAY TEST 是多

18、塊開(kāi)關(guān)板的檢測(cè)，填入開(kāi)關(guān)板的數(shù)量，就會(huì)顯示測(cè)試結(jié)果 當(dāng)然，機(jī)臺(tái)，卡槽也有可能影響測(cè)試授課：XXX44 2常用快捷捷鍵常用快捷捷鍵 進(jìn)入元件編輯界面 CTRL+E 進(jìn)入短路編輯界面 CTRL+P 進(jìn)入不測(cè)點(diǎn)編輯界面 CTRL+S 進(jìn)入IC編輯界面 CTRL+I 進(jìn)入開(kāi)/短路路學(xué)習(xí) CTRL+L 在元件編輯中常用的快捷鍵 尋找針點(diǎn) ALT+P 顯示并聯(lián)元件 ALT+J 顯示串聯(lián)元件 ALT+H 學(xué)習(xí)電容補(bǔ)償值 ALT+Y 單項(xiàng)測(cè)試 F9 整頁(yè)測(cè)試 ALT+F9 尋找隔離點(diǎn) F10 取消隔離點(diǎn) F4授課：XXX45AB點(diǎn)對(duì)調(diào) F5選區(qū) ALT+L取消選區(qū) ALT+U移動(dòng)選區(qū) ALT+M自動(dòng)校正 AL

19、T+D排序 ALT+S區(qū)域編輯 CTRL+F取消不測(cè) F2在IC編輯里的快捷鍵地，電源轉(zhuǎn)換 F4在元件編輯，IC編輯，短路編輯里都適用的快捷鍵新增一行 ALT+F8刪除一行 ALT+F7保存設(shè)置 F3授課：XXX46狀態(tài)設(shè)置里的功能講解授課：XXX47八八. 文件放置指引文件放置指引 授課：XXX48系統(tǒng)分為四個(gè)分區(qū)： C盤(pán)為系統(tǒng)軟件 D盤(pán)為測(cè)試軟件 E盤(pán)為軟件備份 F盤(pán)為系統(tǒng)備份授課：XXX49測(cè)試文件路徑為： D(測(cè)試軟件)：35-50-model name*.dat授課：XXX50九九.覆蓋率的定義覆蓋率的定義授課：XXX51 覆蓋率是指ICT機(jī)器針對(duì)某種產(chǎn)品(MODEL)的測(cè)試能力的總結(jié),它制定的依據(jù)是產(chǎn)品的測(cè)試程序,BOM及相關(guān)電路原理圖(邦線圖).授課：XXX52謝謝大家!53Thank you!