HALM測試機(jī)校準(zhǔn)流程

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賽維LDK太陽能高科技（合肥）有限公司 文件編號 LDK03-QA-009 版本狀態(tài) V1.0 文件名稱 HALM測試機(jī)校準(zhǔn)流程 頁 碼 5/6 生效日期 1. 目的 規(guī)定了HALM測試機(jī)（以下簡稱測試機(jī)）的校準(zhǔn)方法及要求。 2. 范圍 適用于HALM測試機(jī)的校準(zhǔn)過程。 3. 定義 無 4. 職責(zé) 4.1 品管部電池片檢驗員負(fù)責(zé)HALM測試機(jī)的校準(zhǔn)工作，每次測試機(jī)停機(jī)，維護(hù)或設(shè) 備出現(xiàn)重大異常需要校準(zhǔn)，校驗測試判定異常后需要校準(zhǔn)； 4.2 校準(zhǔn)時使用規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)片，使用完畢按《標(biāo)準(zhǔn)片管理規(guī)程》保存； 4.3 品管部當(dāng)班校準(zhǔn)員負(fù)責(zé)對HALM測試機(jī)的校準(zhǔn)，班長負(fù)責(zé)進(jìn)行監(jiān)督確認(rèn)； 4.4 生產(chǎn)部工作人員做好校準(zhǔn)的配合工作。 5.工作程序 5.1校準(zhǔn)要求： 校準(zhǔn)的偏差范圍為：Isc：0.05A, Uoc：0.0015V, FF：0.50，Eta: 0.1%,Pmpp: 0.02w，Irradiance：10，Calibration value：0.5。 5.2超差處理方法： 1）經(jīng)校準(zhǔn)后所測值如達(dá)不到要求偏差，則重新更換校準(zhǔn)片再次校準(zhǔn)，如果仍達(dá)不到 要求偏差范圍屬于設(shè)備異常； 2）經(jīng)重復(fù)校準(zhǔn)判設(shè)備異常的測試儀，應(yīng)由校準(zhǔn)人員通知工藝技術(shù)部現(xiàn)場技術(shù)員分析問題并解決，如遇較復(fù)雜的問題由工藝技術(shù)部安排排除； 3）經(jīng)修復(fù)的測試機(jī)在再次投入使用前應(yīng)進(jìn)行校驗測試，確認(rèn)儀器是否準(zhǔn)確。 5.3校準(zhǔn)步驟： 5.3.1確認(rèn)標(biāo)準(zhǔn)片的型號 使用與所要測試的電池片相同規(guī)格的標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行校準(zhǔn)。 5.3.2標(biāo)準(zhǔn)片定位 5.3.2.1將測試機(jī)的調(diào)節(jié)開關(guān)MAN.STEP.AUTO向左旋轉(zhuǎn)為手動，將標(biāo)片置于探針測試區(qū)。 5.3.2.2必要時可以將標(biāo)片放置在測試機(jī)前端輸送帶上使標(biāo)片通過測試機(jī)傳送帶自動流入 探針測試區(qū)然后將測試機(jī)的調(diào)節(jié)開關(guān)MAN.STEP.AUTO向左旋轉(zhuǎn)為手動 5.3.2.3按測試機(jī)F5鍵使探針下壓，并觀察探針是否壓在電池片主柵線上，如果探針壓歪再按F5使探針抬起后調(diào)整位置，如此重復(fù)操作使探針壓在電池片主柵線上。 注：在校準(zhǔn)前必須先用探針壓一下其他電池片以確保探針正常，防止壓破標(biāo)片； 確認(rèn)探針壓在電池片主柵線上后開始如下校準(zhǔn)操作： 在此處選擇使用權(quán)限 a. 電腦桌面指標(biāo)Shortcut to PVCT CntrBa…， 出現(xiàn)界面（見右圖），輸入用戶名，密碼， 權(quán)限User level選擇administrator。 在此打勾 b. 再點擊菜單Sorter,出現(xiàn)界面（見右圖）， 單擊Stop按鈕，再點擊Maintainance按鈕。 c. 點擊菜單Monitor cell,出現(xiàn)界面（見右圖），在Calibration cell下選擇與校準(zhǔn)標(biāo)片相對應(yīng)的標(biāo)片名稱，點擊Calibration按鈕進(jìn)行自動測試。 需要新建標(biāo)片資料時點擊此處 選擇相對應(yīng)的標(biāo)片號 點擊此處進(jìn)行自動測試 d. 測試完成后出現(xiàn)對話框（見右圖）不論 校正結(jié)果是否有異常（有參數(shù)顯示為紅色或都為綠色），都必須點擊Accept Calibration之后再做參數(shù)調(diào)整；參數(shù)調(diào)整無誤之后同樣必須點擊Accept Calibration，按鈕接受校準(zhǔn)結(jié)果。 在操作接受校準(zhǔn)結(jié)果之前，先做校準(zhǔn)結(jié)果記錄，點OK后，再點擊Accept Calibration再點擊菜單Sorter（圖b），點擊Automatic,再點Start Batch完成校準(zhǔn)點擊此處接受校準(zhǔn)，注：不管校準(zhǔn)結(jié)果是否OK都必須接受校準(zhǔn)。 填上標(biāo)片參數(shù) 點擊此處新建 填好資料后，確認(rèn)接受 e. 如果是新的標(biāo)準(zhǔn)片，電腦中未有標(biāo)片相關(guān)參數(shù)，需輸入新標(biāo)片的參數(shù)，出現(xiàn)對話框（見右圖），點擊Manage Calibration cells按鈕，再點擊NEW按鈕，Edit cell data下輸入標(biāo)片編號，在Setpoint values下依次輸入新標(biāo)準(zhǔn)片的參數(shù)數(shù)據(jù)，在Cell Area左邊輸入標(biāo)片的面積，在Tki[%/K]左邊輸入0.07。輸入完成后點擊Accept完成后開始進(jìn)行校準(zhǔn)。 3、逐次點擊，觀察2的數(shù)據(jù)增加到接近1000為OK。 1、在小方框中點擊選定 2、觀察數(shù)值 4、如數(shù)值需減小逐次點擊，直到接近1000為OK。 5、調(diào)整完成后，點擊save保存。 f. 如果（見d圖）對話框中顯示值與標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)準(zhǔn)Isc誤差超標(biāo)顯示黃色或紅色，那么就點擊Flasher(CetisPV-XF2)菜單（見右圖），選定With adaption to insolation，如需增加數(shù)值逐次點擊Test flash with PVCT按鈕，觀察Insol數(shù)值接近1000為OK（如右圖第2、3點），如需減小數(shù)值逐次點擊Feedback cell rated volt觀察Insol數(shù)據(jù)，接近1000為OK（如右圖第4點），為10000.5W/m，點擊Save保存，再參照5.2.3.c中校準(zhǔn)直至測試值與標(biāo)準(zhǔn)值相差到規(guī)定的誤差范圍 修改此處溫度數(shù)據(jù) 先點擊此處修改，再改溫度 g.如果（圖d）對話框中顯示值與標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)準(zhǔn) Uoc誤差超標(biāo)顯示黃色或紅色，點擊 Classification菜單點擊Change...按鈕，出現(xiàn)對話框（見右圖）修改Temperature offset的溫度數(shù)據(jù)，當(dāng)測量值高于標(biāo)片設(shè)定值時，可適當(dāng)降低Temperature offset值；相反，若測量值低于標(biāo)片設(shè)定值時，可適當(dāng)升高Temperature offset值。保存后重新校準(zhǔn)直至測試值與標(biāo)準(zhǔn)值相差到規(guī)定的誤差范圍內(nèi)。 在此更換用戶級別 h.校準(zhǔn)完成后，直接在軟件的Sorter界面中用 戶下選擇Change，更改為Operator用戶登錄即可。 5.3校準(zhǔn)完畢，確認(rèn)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)在偏差范圍內(nèi)，HALM測試臺按F5,取出標(biāo)準(zhǔn)片如實填寫《電池片校準(zhǔn)記錄表》。 6．相關(guān)文件 無 7.0 相關(guān)記錄 7.1 LDK04-QA-050 電池片校準(zhǔn)記錄表