[信息與通信]OMICRON繼電保護(hù)綜合測試儀使用說明書第三部分

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1、OMICRON繼保綜合測試儀使用手冊 第三部分 OMICRON應(yīng)用軟件用戶手冊（Concept） TEST UNIVERSE Version 1.3 1. OMICRON TEST UNIVERSE OMICRON TEST UNIVERSE試驗(yàn)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)適用于用戶和制造廠對保護(hù)和測量裝置的試驗(yàn)。該系統(tǒng)包括達(dá)到最新技術(shù)發(fā)展水平的硬件，用戶界面友好、基于WINDOWS操作系統(tǒng)的軟件，并且能夠提供對各種試驗(yàn)應(yīng)用的多用性和適用性。 試驗(yàn)系統(tǒng)的多用性是由不同的軟件包保證的，而適用性是通過軟件包中的模塊的隨意組合和使用獲得的。每一個(gè)軟件包包括基于一個(gè)

2、功能的多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K。試驗(yàn)?zāi)K可以用來進(jìn)行單獨(dú)的試驗(yàn)；或者與其它模塊一起組合進(jìn)一個(gè)OMICRON Control Center（OMICRON控制中心）的試驗(yàn)文件（試驗(yàn)計(jì)劃）中，來進(jìn)行完整的、多功能的試驗(yàn)。試驗(yàn)文件是在試驗(yàn)中達(dá)到更大多用性和實(shí)用性的一個(gè)途徑。 1.1 軟件包一覽（Windows版軟件） Basic Protection Advanced Protection Meter Measurement Universal Control Center 自動(dòng)工具；文檔式的試驗(yàn)方案，模板和報(bào)告格式 l l l l 模塊 QuickCMC 對C

3、MC功能進(jìn)行基本的手動(dòng)控制的界面 l l l l l State Sequence 靈活的基于狀態(tài)順序控制器，用于確定動(dòng)作時(shí)間和邏輯時(shí)間關(guān)系 l l l l Ramping 靈活的變量定義，用于確定幅值、相位、頻率的門檻值 l l l l Overcurrent 手動(dòng)或自動(dòng)測試正序/負(fù)序/零序過流特性 l l l Distance (P) 用在阻抗平面上的單次動(dòng)作定義進(jìn)行阻抗元件測試，有特性圖形顯示 l l l Differential (P) 單相模式下動(dòng)作元件和諧波元件的試驗(yàn)。在Idiff

4、/Ibias平面上確定動(dòng)作點(diǎn)。 l l l Advanced Distance 在阻抗平面上采用不同的自動(dòng)測試方式（Shot，Search，Check）進(jìn)行阻抗元件試驗(yàn)，有阻抗特性圖形顯示。可以用有相關(guān)試驗(yàn)點(diǎn)的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)?zāi)０逶囼?yàn)距離保護(hù)的整定值。 l l Advanced Differetial 差動(dòng)繼電器的自動(dòng)三相試驗(yàn)（以最多九個(gè)電流輸出）。在Idiff/Ibias平面上確定或搜索動(dòng)作點(diǎn)。有四個(gè)模塊分別進(jìn)行動(dòng)作特性、諧波、界限組別、跳閘時(shí)間試驗(yàn)。 l l Advanced Transplay 輸入、重放、修改和自動(dòng)評價(jià)使用C

5、OMTRADE/PL4/TRF文件格式的暫態(tài)文件。圖形顯示和包括報(bào)告的分析。 l l Meter 試驗(yàn)各種型式的電能表計(jì)。包括負(fù)荷試驗(yàn)、空載試驗(yàn)、潛流試驗(yàn)、和計(jì)數(shù)機(jī)構(gòu)試驗(yàn) l l l Utilities Transplay（用于回放Comtrade文件） TYPConverter（用于將TYP文件轉(zhuǎn)換成RIO文件）； CMPGS（用于整定OMICRON GPS同步單元）； AuxDC（用于整定CMC256的輔助直流輸出）； ScanLic（用于在計(jì)算機(jī)中查找OMICRON的許可文件）； AddLic（用于人為更新許可文件）。 l

6、l l l CM Engine 編程界面 l l l l 1.2 OMICRON Control Center（OMICRON控制中心）的簡介： OMICRON Control Center（OCC）將多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K的執(zhí)行組合為一個(gè)試驗(yàn)方案。它使一個(gè)單一的試驗(yàn)文檔包括所有與試驗(yàn)有關(guān)的信息，包括硬件設(shè)定、被試設(shè)備數(shù)據(jù)、試驗(yàn)參數(shù)（例如，測試點(diǎn)，額定參數(shù)）、試驗(yàn)結(jié)果、試驗(yàn)評價(jià)、試驗(yàn)者的注意事項(xiàng)和記錄，以及其他Windows程序中的圖像和數(shù)據(jù)。 試驗(yàn)?zāi)K可以組合進(jìn)OCC文檔，這樣能獲得一個(gè)試驗(yàn)現(xiàn)代多功能保護(hù)繼電器的總的試驗(yàn)方案。試驗(yàn)文檔的產(chǎn)生只要通過使用Test W

7、izard就能獲得。Test Wizard指導(dǎo)應(yīng)用所需的試驗(yàn)?zāi)K功能的選擇。所做的選擇隨后自動(dòng)以O(shè)CC試驗(yàn)文檔格式組合成一個(gè)完整的試驗(yàn)方案。試驗(yàn)文檔中的試驗(yàn)?zāi)K只要用鼠標(biāo)雙擊就能打開，來進(jìn)行特定的設(shè)定和試驗(yàn)任務(wù)。整個(gè)試驗(yàn)方案的運(yùn)行可以通過點(diǎn)擊一個(gè)工具條按鈕進(jìn)行。 當(dāng)試驗(yàn)文檔由OCC執(zhí)行時(shí)，其內(nèi)部組合的試驗(yàn)?zāi)K自動(dòng)啟動(dòng)；試驗(yàn)值被計(jì)算并輸出；被試設(shè)備的反應(yīng)被測量、評價(jià)并存檔。試驗(yàn)結(jié)果輸出到同一個(gè)試驗(yàn)文檔中。試驗(yàn)報(bào)告可以很容易進(jìn)行內(nèi)容和格式的修改；試驗(yàn)結(jié)果可以用今后的處理（打印，存檔，輸出到一個(gè)數(shù)據(jù)庫）。 由于OCC試驗(yàn)文檔包括所有的設(shè)定和試驗(yàn)結(jié)果，它也可以用作一個(gè)新試驗(yàn)的模板。試驗(yàn)報(bào)告可以復(fù)制

8、，老的試驗(yàn)結(jié)果被清除；試驗(yàn)重新進(jìn)行后，保存新的試驗(yàn)報(bào)告。這樣，被試設(shè)備的完整試驗(yàn)過程可以被記錄下來并存檔。 OMICRON Control Center應(yīng)用了Windows的ActiveX技術(shù)。它允許OMICRON的試驗(yàn)?zāi)K和其它應(yīng)用ActiveX技術(shù)的文件（例如，Word，Excel，CoreDraw文件或者圖形）一起組合進(jìn)一個(gè)試驗(yàn)文檔中。這可以獲得試驗(yàn)文檔的最大靈活性和多用性。 2 OMICRON控制軟件的首頁 在PC機(jī)上安裝完OMICRON Test Universe（OMICRON多用途試驗(yàn)系統(tǒng)）的軟件后，它可以這樣被啟動(dòng)： l 在“Start”菜單中，選擇“Program

9、 files|OMICRON Test Universe”； l 或者，點(diǎn)擊桌面圖標(biāo)（如果在安裝時(shí)建立）。 這樣可以打開首頁，上面包括OMICRON Test Universe軟件的各組成模塊。首頁被制作成象網(wǎng)頁一樣的一個(gè)對話框。OMICRON Control Center（OCC），所有經(jīng)授權(quán)的試驗(yàn)?zāi)K，和各種實(shí)用程序都能在首頁上啟動(dòng)注1。 圖2-1：OMICRON Test Universe的首頁 首頁用于： l 點(diǎn)擊有下劃線的文字或者圖標(biāo)來啟動(dòng)應(yīng)用程序； l 在鼠標(biāo)位于有下劃線的文字上時(shí)顯示工具提示； l 在鼠標(biāo)位于有下劃線的文字上時(shí)，在首頁底部的文本區(qū)域顯示在線指南。

10、首頁分為兩個(gè)主要的欄目： l 左面一欄顯示單個(gè)模塊的清單，每個(gè)模塊指示都有下劃線，所有可以使用的模塊都為藍(lán)色文字。所有試驗(yàn)?zāi)K都可以以單機(jī)模式啟動(dòng)使用。 l 右面一欄顯示OMICRON Control Center中的內(nèi)容，也帶有下劃線，紅色文字（如果已安裝）注1。試驗(yàn)?zāi)K可以以組合模式使用。 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注1：試驗(yàn)?zāi)K不能使用是由于沒有被安裝，此時(shí)以灰色文字顯示

11、。 2.1 首頁上的試驗(yàn)?zāi)K（單機(jī)模式） 首頁顯示PC機(jī)中安裝的所有試驗(yàn)?zāi)K，當(dāng)OMICRON Test Universe的試驗(yàn)?zāi)K被從首頁啟動(dòng)時(shí)，它們將運(yùn)行于單機(jī)模式。 要以單機(jī)模式使用一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K，用鼠標(biāo)單擊在首頁上它的圖標(biāo)或帶有下劃線的文字。 直接啟動(dòng)硬件：QuickCMC是用于控制任何CMC試驗(yàn)裝置輸出開關(guān)量信號或模擬量信號的試驗(yàn)?zāi)K。QuickCMC使用簡單、直觀，它是“使你的硬件做某種試驗(yàn)” 最快的方式。它在“保護(hù)”手冊中有詳細(xì)描述。 2.2 首頁上的控制中心（組合模式） OMICRON Test Universe中的試驗(yàn)?zāi)K可以用作為OMICRON Contr

12、ol Center（OCC）的試驗(yàn)文檔的一部分。一個(gè)試驗(yàn)文檔是多功能的，它可以嵌入多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K，支持復(fù)雜試驗(yàn)，并能自動(dòng)進(jìn)行。 ——————————————————————————————————————— 注1：試驗(yàn)?zāi)K的授權(quán)文件必須在安裝OMICRON Test Universe軟件之前進(jìn)行安裝。而且，首頁上只開放系統(tǒng)中已安裝并且存在的試驗(yàn)?zāi)K。 直接啟動(dòng)OCC：Test Wizard（試驗(yàn)向?qū)В┦且粋€(gè)快速生成試驗(yàn)文檔的工具。它使用組織管理嚴(yán)密的方法將所有進(jìn)行一個(gè)復(fù)雜試驗(yàn)所需的試驗(yàn)?zāi)K組合到一起。它是“生成一個(gè)試驗(yàn)文檔使你的硬件進(jìn)行某個(gè)試驗(yàn)”的最快方法。（參見第3部分“直接用試驗(yàn)向?qū)

13、est Wizard啟動(dòng)”） 首頁上OMICRON Control Center的選項(xiàng)包括： Test Wizard 使用Test Wizard試驗(yàn)向?qū)?dòng)OMICRON Control Center（OMICRON控制中心）。 Open Empty Document 以一個(gè)空白的試驗(yàn)文檔啟動(dòng)OMICRON Control Center（OMICRON控制中心），用戶可以在試驗(yàn)文檔里嵌入試驗(yàn)步驟所必需的試驗(yàn)?zāi)K。OMICRON Control Center的詳細(xì)信息參見第6部分“The OMICRON Control Center”。 Load

14、 Template 用基于一個(gè)模板的新的試驗(yàn)文檔來啟動(dòng)OMICRON Control Center。模板可以定義用作試驗(yàn)?zāi)硞€(gè)特定的繼電器或被試設(shè)備。模板根據(jù)需要可以是專用或者通用的，但是允許在一個(gè)組合中的試驗(yàn)報(bào)告具有相同的基本結(jié)構(gòu)。 Open Existing Test Document 以先前生成的一個(gè)試驗(yàn)文檔（OCC file）啟動(dòng)OMICRON Control Center。 3. 直接以試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）啟動(dòng) 試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）是OMICRON Control Center（OCC）的一個(gè)特點(diǎn)。Test Wizar

15、d的用途是幫助你建立一個(gè)試驗(yàn)規(guī)范或試驗(yàn)文檔。OCC Test Wizard包含一系列的對話框，會指導(dǎo)你一步一步建立一個(gè)新的試驗(yàn)文檔。 定義一個(gè)試驗(yàn)文檔是一個(gè)四步的過程，它允許回到上一步來修改試驗(yàn)的設(shè)定。 1、選擇所需的試驗(yàn)?zāi)K和它的功能；將它們加入到試驗(yàn)文檔的清單中。如果合適的話，選擇清單中所列功能所需的故障類型。 2、為新的試驗(yàn)文檔選擇模板（OCC文件），被試設(shè)備（RIO文件），硬件設(shè)置（OHC文件）。 3、檢查你新的試驗(yàn)文檔的結(jié)構(gòu)，并且為每一個(gè)單一試驗(yàn)分配用戶定義的名字。 4、一旦完成對試驗(yàn)文檔定義，啟動(dòng)自動(dòng)處理過程生成OCC試驗(yàn)文檔。 3.1 啟動(dòng)試驗(yàn)向?qū)В═est Wi

16、zard） OMICRON Test Universe的首頁提供了啟動(dòng)試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）的兩種方法： 1、點(diǎn)擊試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）圖標(biāo)或者它的帶有下劃線的文字； 2、通過打開一個(gè)空白的試驗(yàn)文檔、裝載一個(gè)模板、或者打開一個(gè)已有的試驗(yàn)文檔來啟動(dòng)OMICRON Control Center，然后， l 點(diǎn)擊試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）圖標(biāo)， l 或者，選擇“Help|Test Wizard…”。 3.2 初始的試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）對話窗口 圖3-1顯示了試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）的第一個(gè)對話窗口，大部分對話框是灰色的，因?yàn)闆]

17、有選擇過最高級的應(yīng)用。 圖3-1：初始的試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）對話窗口 應(yīng)用是在試驗(yàn)向?qū)ЫM織嚴(yán)密的途徑中最高級的，它表明要進(jìn)行試驗(yàn)的大致區(qū)域。應(yīng)用列表及其內(nèi)容可以由用戶修改。參見3.9部分“試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）的用戶化”。 注意：OMICRON定義或提供的應(yīng)用、功能、試驗(yàn)如果沒有復(fù)制、重命名之前不能被修改。這些用戶定義的項(xiàng)目不會受卸載或者重裝OMICRON Test Universe軟件的影響。 3.3 選擇一個(gè)應(yīng)用（Application） 圖3-2顯示了在選中一個(gè)應(yīng)用之后的試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）對話框，圖中選擇的是“饋線保護(hù)（Feeder

18、 Protection）”。對話框中列出了所有與該應(yīng)用有關(guān)的功能選項(xiàng)。 在試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）由上而下的方法中，功能選擇是第二級的；就是由這些功能組成了給定應(yīng)用的各個(gè)可以選擇的模塊。 這些功能選擇并不是為某一個(gè)應(yīng)用所專用的，事實(shí)上，它們被期望能被共享。在很多情況下，這些功能有足夠的共用程度，所以有一個(gè)統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)。如果了解ANSI標(biāo)準(zhǔn)，它的編號就出現(xiàn)在鄰近功能欄的裝置欄中注1。 圖3-2：在試驗(yàn)向?qū)В═est Wizard）對話框種選擇應(yīng)用 當(dāng)一個(gè)給出的功能旁邊有一個(gè)紅色的“X”時(shí)，說明OMICRON Test Universe的軟件還未安裝試驗(yàn)所需的功能。 ------

19、---------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注1：裝置欄中給出的編號是IEEE Standard C37.2-1991中的ANSI“Power System Device Function Number（電力系統(tǒng)裝置功能編號）”。 3.4 選擇一個(gè)功能（Function） 要增加一個(gè)功能，可以， l 點(diǎn)擊功能列表中所需要的項(xiàng)目，點(diǎn)擊項(xiàng)目被加亮，并且“Add To Test”（加載到試驗(yàn)）按鈕被激活。點(diǎn)擊

20、“Add To Test”按鈕。 l 或者，雙擊功能列表中所需要的項(xiàng)目。 選中的功能隨后被打上校驗(yàn)標(biāo)記，并且與此功能有關(guān)的試驗(yàn)?zāi)K被加到試驗(yàn)文檔中。 圖3-3：在試驗(yàn)向?qū)υ捒蛑羞x擇功能 3.5 將試驗(yàn)?zāi)K嵌入一個(gè)試驗(yàn)文檔 試驗(yàn)?zāi)K在試驗(yàn)向?qū)е杏猩隙碌慕M合方式中是第三級的，它們將給定的功能分解成很好個(gè)可以處理的試驗(yàn)，并且提供適合試驗(yàn)選定功能的工具。 圖3-4顯示了功能“Undervoltage Protection（低電壓保護(hù)）”加入到試驗(yàn)文檔后的試驗(yàn)向?qū)υ捒?。這個(gè)特定的功能基于ANSI 27注1，它分成兩個(gè)部分：低電壓動(dòng)作/返回試驗(yàn)和延時(shí)時(shí)間試驗(yàn)。為了試驗(yàn)這個(gè)功能，需要試

21、驗(yàn)?zāi)KOMICRON Ramping（OMICRON變量試驗(yàn)?zāi)K）和OMICRON State Sequencer（OMICRON狀態(tài)順序試驗(yàn)?zāi)K）。 試驗(yàn)文檔可以為某一個(gè)給定的應(yīng)用（Application）組合任意數(shù)量的功能（Function）。 在對某一個(gè)應(yīng)用（Application）在試驗(yàn)文檔中加完所有的功能（Function）之后，點(diǎn)擊“Next（下一步）”。 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------

22、------- 注1：裝置欄中給出的編號是IEEE Standard C37.2-1991中的ANSI“Power System Device Function Number（電力系統(tǒng)裝置功能編號）”。 圖3-4：由試驗(yàn)向?qū)⒃囼?yàn)?zāi)K插入試驗(yàn)文檔 3.6 選擇模板和其它的預(yù)設(shè)定文件 圖3-5顯示了試驗(yàn)向?qū)е械牡?個(gè)對話窗口，它是用于通用性參數(shù)，例如要經(jīng)常用到的項(xiàng)目。這里要完成的主要任務(wù)是： l 在一個(gè)已有的模板上定義一個(gè)新的試驗(yàn)文檔，一個(gè)已有的試驗(yàn)文檔，或者一個(gè)空的試驗(yàn)文檔（所有這些都是OCC文件）； l 從已存在的RIO文件（OMICRON的繼電器接口文件Relay Inte

23、rface File）輸入被試設(shè)備的整定值； l 從已存在的OHC文件中輸入硬件設(shè)置。 如果先前的試驗(yàn)報(bào)告和已存在的被試設(shè)備中的整定值和設(shè)置能夠利用，在生成試驗(yàn)文檔的時(shí)候可以節(jié)約很多時(shí)間和精力。 如果沒有被試設(shè)備或硬件設(shè)置被定義，你將被提示在生成試驗(yàn)文檔的時(shí)候填寫這些信息。 圖3-5：在試驗(yàn)向?qū)е羞x擇模板和其它的預(yù)設(shè)文件 3.7 在試驗(yàn)文檔中修改名字： 圖3-6顯示了試驗(yàn)向?qū)е械牡谌齻€(gè)對話窗口，它用于自定義試驗(yàn)文檔中的條目，以便更精確地描述將要進(jìn)行什么試驗(yàn)。所有“Test Name試驗(yàn)名稱”欄目中的標(biāo)記都可以修改，并將在試驗(yàn)文檔中作為標(biāo)題。 在圖3-6中顯示的對話框是在試驗(yàn)文

24、檔生成之前的最后一步。在試驗(yàn)向?qū)е?，可以回到上一步進(jìn)行增加，刪除或修改信息。 圖3-6：在試驗(yàn)向?qū)е行薷脑囼?yàn)名稱 3.8 生成一個(gè)試驗(yàn)文檔 點(diǎn)擊在圖3-6中顯示的“完成Finish”按鈕通過插入所有合適的試驗(yàn)?zāi)K生成試驗(yàn)文檔。這個(gè)過程將需要一些時(shí)間，一個(gè)信息窗口將出現(xiàn)顯示生成的過程。 如果在試驗(yàn)向?qū)υ捒蛑袥]有定義被試設(shè)備，你將被提示輸入這種信息。（參見第4部分“設(shè)定被試設(shè)備Setting up the Test Object”。）同樣地，如果沒有定義硬件設(shè)定，你也將被提示輸入這個(gè)信息。（參見第5部分“設(shè)定試驗(yàn)硬件”）。 試驗(yàn)向?qū)梢粋€(gè)帶有指定試驗(yàn)?zāi)K的試驗(yàn)文檔。試驗(yàn)文檔在OM

25、ICRON Control Center（OCC）中打開。試驗(yàn)文檔是否能立即用來進(jìn)行試驗(yàn)取決于在它的定義過程中是否所有所需的信息都提供了。 用戶可以自定義報(bào)告及其名稱。記住，這個(gè)試驗(yàn)文檔可以保存為一個(gè)模板，用于將來的試驗(yàn)，這可以節(jié)省很多時(shí)間和精力。 圖3-7：在OCC中通過試驗(yàn)向?qū)稍囼?yàn)文檔及其顯示的報(bào)告格式 3.9 自定義用戶向?qū)? 在試驗(yàn)向?qū)е锌梢垣@得的應(yīng)用（Application）、功能（Function）和單個(gè)試驗(yàn)（Test）是由OMICRON的繼電保護(hù)專家和電氣工程師開發(fā)的。我們的意圖是在OMICRON Test Universe使用的地方能夠覆蓋大多數(shù)的應(yīng)用要求。很明顯

26、，通用的試驗(yàn)?zāi)K不能不做任何修改就在任何地方使用。 最后，試驗(yàn)向?qū)б呀?jīng)被設(shè)計(jì)成允許由用戶修改或改進(jìn)以適應(yīng)他們特定的需要。 3.9.1 啟動(dòng)試驗(yàn)向?qū)? 用OMICRON Test Universe的首頁啟動(dòng)試驗(yàn)向?qū)?。圖3-8顯示了試驗(yàn)向?qū)У牡?個(gè)對話框。大部分的對話框是灰色的，這是因?yàn)闆]有最高級的應(yīng)用（Application）被選中。 不選擇由OMICRON提供的應(yīng)用（Application），點(diǎn)擊“自定義試驗(yàn)向?qū)В–ustomize Test Wizard）”按鈕，這是對話框右上角由上而下的第三個(gè)按鈕。 注意：如果一個(gè)應(yīng)用（Application）或一個(gè)功能（Function）或一

27、個(gè)試驗(yàn)（Test）已經(jīng)被插入試驗(yàn)文檔中，“自定義試驗(yàn)向?qū)В–ustomize Test Wizard）”按鈕不能使用。自定義必須在新啟動(dòng)試驗(yàn)向?qū)е笫紫冗M(jìn)行。 圖3-8：初始的試驗(yàn)向?qū)υ捒? 3.9.2 有關(guān)試驗(yàn)向?qū)У淖远x “自定義試驗(yàn)向?qū)В–ustomize Test Wizard）”對話框包括在左面的樹結(jié)構(gòu)和右面的由三個(gè)表格的屬性頁，如圖3-9所示。這三個(gè)表格分別用于定義應(yīng)用（Application），功能（Function）和試驗(yàn)（Test）。 樹結(jié)構(gòu)中的所有條目都可以定義成OMICRON的條目或用戶定義的條目。條目可以是最高級的應(yīng)用（Application），第二級的功能

28、（Function）和第三級的試驗(yàn)（Test）。 注意：標(biāo)準(zhǔn)的OMICRON條目不可以被修改，但是OMICRON的應(yīng)用（Application），功能（Function）和試驗(yàn)（Test）可以通過自定義過程被復(fù)制和重命名，從而成為用戶定義的條目。用戶定義條目的設(shè)定保存在一個(gè)名為“TestWizaUser.ini”的文件中。這個(gè)設(shè)定文件和用戶自定義條目不受卸載或重裝OMICRON Test Universe的影響。 圖3-9：自定義試驗(yàn)向?qū)? 3.9.3 使用樹結(jié)構(gòu) 試驗(yàn)向?qū)υ挻翱谥凶竺娴臉浣Y(jié)構(gòu)顯示了應(yīng)用（Application），功能（Function）和試驗(yàn)（Test）之間的等級

29、關(guān)系。 圖3-10顯示了與饋線保護(hù)（Feeder Protection）這一應(yīng)用（Application）有關(guān)的三個(gè)等級。這個(gè)特定的應(yīng)用（Application）有數(shù)個(gè)功能（Function）與它有關(guān)，其中有一個(gè)是低電壓保護(hù)（Undervoltage Protection）。低電壓保護(hù)功能（Undervoltage Protection Function）有兩個(gè)試驗(yàn)（Test）與它有關(guān)：低電壓動(dòng)作/返回和低電壓保護(hù)時(shí)間。 該樹結(jié)構(gòu)用于提供一個(gè)所有可以獲得的條目的總覽，并幫助查找。 只要雙擊樹結(jié)構(gòu)中的條目，與該條目有關(guān)的屬性將在表中顯示。 在這個(gè)樹狀等級中，在每一級都可以定義其中的條目。

30、這樣，你可以由上而下開始，定義一個(gè)應(yīng)用（Application），它的功能（Function）及其每一個(gè)試驗(yàn)（Test）。或者你可以由下而上開始，定義每一個(gè)試驗(yàn)（Test），它們的功能（Function）和它們的應(yīng)用（Application）。當(dāng)一個(gè)功能（Function）或試驗(yàn)（Test）被生成時(shí)，還未被設(shè)定掉的，它在樹結(jié)構(gòu)中位于“為被設(shè)定的功能”或“為被設(shè)定的試驗(yàn)”欄中。 圖3-10：饋線保護(hù)應(yīng)用的結(jié)構(gòu) 3.9.4 自定義一個(gè)應(yīng)用（Application） OMICRON提供的應(yīng)用（Application）不能直接被修改，但是它們可以被復(fù)制，其復(fù)制件可以被修改以適應(yīng)用戶的要求。

31、 注意：一個(gè)復(fù)制的應(yīng)用可以被分配新的功能或者從中刪除已有的功能。但是由OMICRON提供的標(biāo)準(zhǔn)的功能不能被修改。 要復(fù)制一個(gè)應(yīng)用： 1、在樹結(jié)構(gòu)中選中這個(gè)應(yīng)用； 2、點(diǎn)擊“New…”按鈕； 3、輸入一個(gè)合適的名字； 4、原有應(yīng)用中的所有功能都被分配到這個(gè)用戶命名的應(yīng)用中，在這個(gè)用戶定義的應(yīng)用中的功能布置可以被改變。 可以為試驗(yàn)文檔（OCC file），被試設(shè)備（RIO file），和硬件設(shè)置文件（OHC file）定義模板文件。在試驗(yàn)向?qū)У?步時(shí)，當(dāng)“從文件中導(dǎo)入Import from File”選項(xiàng)被激活時(shí)，在文本框中顯示文件被用作默認(rèn)值。 目錄設(shè)定顯示在文本框中，它們是由操作

32、系統(tǒng)使用的三個(gè)特殊的宏之一定義的，在紀(jì)錄中定義為“%TESTLIB-OCC%”，“%TESTLIB-TO%”，“%TESTLIB-HWC%”。這些宏的用途是允許試驗(yàn)文檔在那些條目具有不同目錄的計(jì)算機(jī)之間共享。在試驗(yàn)庫中，控制中心模板、被試設(shè)備、硬件設(shè)置的宏被擴(kuò)大到相應(yīng)的OMICRON Test Universe安裝路徑。 即使某一個(gè)應(yīng)用（Application）是由用戶定義的，它所分配的功能（Function）也可以包括由OMICRON提供的功能。功能的設(shè)置可以改變，但必須先把它們變成用戶定義的功能。 “Assigned已設(shè)置”一欄顯示了與當(dāng)前選定的應(yīng)用（Application）有關(guān)的所有

33、功能?！癗ot Assigned未設(shè)置”顯示了所有為被設(shè)置進(jìn)已選定的應(yīng)用、其它的可以選擇的功能。一個(gè)功能可以設(shè)置進(jìn)不止一個(gè)應(yīng)用中。要改變設(shè)置： 1、 在“Assigned已設(shè)置”或“Not Assigned未設(shè)置”列表中點(diǎn)擊所需功能； 2、 點(diǎn)擊“<--”（“Assigned設(shè)置”）按鈕或者“<--”（“Removed刪除”）按鈕。 圖3-11顯示了一個(gè)用戶定義的應(yīng)用生成以后的應(yīng)用選項(xiàng)卡，該應(yīng)用稱為“試驗(yàn)的饋線保護(hù)TRIAL Feeder protection”。很多與默認(rèn)的“饋線保護(hù)Feeder Protection”應(yīng)用有關(guān)的功能被刪除，增加了一個(gè)被稱為“試驗(yàn)的低電壓保護(hù)TRIAL

34、Feeder Protection”的功能。 圖3-11：用戶定義的應(yīng)用（Application） 3.9.5 自定義功能（Function） OMICRON提供的功能（Function）不能直接被修改，但是它們可以被復(fù)制，其復(fù)制件可以被修改以適應(yīng)用戶的要求。 注意：一個(gè)復(fù)制的功能可以被分配新的試驗(yàn)或者從中刪除已有的試驗(yàn)。但是由OMICRON提供的標(biāo)準(zhǔn)的試驗(yàn)不能被修改。 要復(fù)制一個(gè)功能： 1、在樹結(jié)構(gòu)中的一個(gè)應(yīng)用下選中這個(gè)功能； 2、點(diǎn)擊“New…”按鈕； 3、 輸入一個(gè)合適的名字，原有功能中的所有試驗(yàn)都被分配到這個(gè)用戶命名的功能中，在這個(gè)用戶定義的功能中的試驗(yàn)設(shè)置可以被改

35、變。 當(dāng)生成一個(gè)新的功能時(shí)，它沒有被設(shè)置給任何應(yīng)用。所以，它將出現(xiàn)在樹結(jié)構(gòu)的“Not Assigned未設(shè)置”一欄中。它將一直留在那里，直到被設(shè)置給某一個(gè)用戶定義的應(yīng)用中。 即使某一個(gè)功能是由用戶定義的，它里面設(shè)置的試驗(yàn)仍然可以包括由OMICRON提供的內(nèi)容。試驗(yàn)設(shè)置可以被改變，但試驗(yàn)本身沒有變成用戶定義之前不能改變。 一個(gè)試驗(yàn)可以設(shè)置進(jìn)選定的功能，或者從中刪除。 1、 “Assigned已設(shè)置”或“Not Assigned未設(shè)置”列表中點(diǎn)擊所需的試驗(yàn)； 2、 點(diǎn)擊“<--”（“Assigned設(shè)置”）按鈕或者“<--”（“Removed刪除”）按鈕。 圖3-12顯示了一個(gè)用戶定義

36、的功能生成以后的功能選項(xiàng)卡，該功能稱為“試驗(yàn)的低電壓保護(hù)TRIAL Feeder Protection”。它包含了與默認(rèn)的“饋線保護(hù)Feeder Protection”有關(guān)的相同功能，還有新增的稱為“試驗(yàn)的低電壓動(dòng)作值/返回值試驗(yàn)TRIAL undervoltage pick-up/drop-off test”。 圖3-12：用戶定義的功能（Function） 3.9.6 自定義一個(gè)試驗(yàn)（Test） OMICRON提供的試驗(yàn)（Test）不能直接被修改，但是它們可以被復(fù)制，其復(fù)制件可以被修改以適應(yīng)用戶的要求。 要復(fù)制一個(gè)試驗(yàn)： 1、在樹結(jié)構(gòu)中一個(gè)功能下（或者在“Not Assign

37、ed Test未設(shè)置的試驗(yàn)”列表中）選中這個(gè)試驗(yàn)； 2、點(diǎn)擊“New…”按鈕； 3、輸入一個(gè)合適的名字； 3、 原有試驗(yàn)中的所有屬性都被復(fù)制到這個(gè)用戶命名的試驗(yàn)中，在這個(gè)用戶定義的試驗(yàn)中的屬性設(shè)置可以被改變。 當(dāng)生成一個(gè)新的試驗(yàn)時(shí)，它沒有被設(shè)置給任何功能。所以，它將出現(xiàn)在樹結(jié)構(gòu)的“Not Assigned Test未設(shè)置試驗(yàn)”一欄中。它將一直留在那里，直到被設(shè)置給某一個(gè)用戶定義的功能中。 試驗(yàn)?zāi)K（Test Module）顯示與選中的試驗(yàn)有關(guān)的試驗(yàn)?zāi)K。下拉式菜單顯示所有可以獲得的OMICRON試驗(yàn)?zāi)K。 一個(gè)模板可以被設(shè)置，并且選擇在這一試驗(yàn)步驟中每一個(gè)單獨(dú)的試驗(yàn)。當(dāng)選擇試驗(yàn)庫（

38、Test Library）子目錄下的某一個(gè)文件時(shí)，路徑部分被替換成宏“%TESTLIB-TA%”。這方便了試驗(yàn)文檔在不同PC機(jī)之間的共享。 為了定義一個(gè)新的試驗(yàn)，“編輯Edit”按鈕用于對給定的試驗(yàn)啟動(dòng)試驗(yàn)?zāi)K。對于特定的試驗(yàn)?zāi)K，可以由在線幫助獲得更多的信息。 試驗(yàn)向?qū)е甘締蝹€(gè)試驗(yàn)?zāi)K支持何種故障類型。支持的故障類型的文本框被突出顯示。如果試驗(yàn)?zāi)０宀恢С帜骋粋€(gè)故障類型，“通用General”條目被加亮，故障類型文本框被禁止。一個(gè)試驗(yàn)故障類型的選擇可以使用復(fù)選框設(shè)定。 圖3-13顯示了一個(gè)用戶定義的試驗(yàn)生成以后的試驗(yàn)選項(xiàng)卡，稱為“試驗(yàn)的低電壓動(dòng)作/返回試驗(yàn)”。 圖3-13：用戶定義的試

39、驗(yàn)（Test） 3.9.7 生成一個(gè)用戶定義條目的順序 應(yīng)用（Application），功能（Function），試驗(yàn)（Test）可以以任意順序進(jìn)行定義。當(dāng)一個(gè)功能或一個(gè)試驗(yàn)生成以后還未在樹結(jié)構(gòu)中設(shè)置時(shí)，它們被分別置于“自定義試驗(yàn)向?qū)ustomize Test Wizard”對話框中的結(jié)構(gòu)底部的“未設(shè)置功能Not Assigned Function”和“未設(shè)置試驗(yàn)Not Assigned Test”列表中。 在一個(gè)用戶定義的試驗(yàn)?zāi)鼙皇褂弥?，它必須被設(shè)置給一個(gè)或多個(gè)用戶定義的功能中。同樣，一個(gè)用戶定義的功能必須被設(shè)置給一個(gè)或多個(gè)用戶定義的應(yīng)用。相應(yīng)地，為方便地重新利用試驗(yàn)過程，功能和試

40、驗(yàn)都可以被設(shè)置給任意數(shù)量的應(yīng)用或功能。 即使一個(gè)應(yīng)用或一個(gè)功能是由用戶定義的，它所設(shè)定的功能或試驗(yàn)仍可以是由OMICRON提供的。一個(gè)用戶定義的應(yīng)用可以包括任意數(shù)量的用戶定義或由OMICRON提供的功能。同樣，一個(gè)用戶定義的功能可以包括任意數(shù)量的試驗(yàn)。 3.9.8 嵌入到試驗(yàn)文檔中的用戶定義的條目 用戶定義的試驗(yàn)（Test）如果沒有設(shè)置進(jìn)一個(gè)以設(shè)置進(jìn)用戶定義的應(yīng)用（Application）中的用戶定義的功能（Function），它將不能被插入到試驗(yàn)文檔當(dāng)中去。定義過程只要復(fù)制一個(gè)已存在的應(yīng)用（Application）和一個(gè)已存在的功能（Function），然后相應(yīng)地設(shè)置新的試驗(yàn)（Test

41、）。 一旦在“自定義試驗(yàn)向?qū)ustomize Test Wizard”對話框中做好設(shè)置，用戶定義的條目可以象OMICRON提供的任何試驗(yàn)一樣插入試驗(yàn)文檔。 4. 設(shè)定被試設(shè)備Setting up the Test Object OMICRON Test Universe是設(shè)計(jì)用來試驗(yàn)保護(hù)繼電器、變送器和電能表的。所以，這些設(shè)備是“physical（實(shí)際的）”的被試設(shè)備，它們需要被在OMICRON Test Universe的軟件中設(shè)置注1。 在一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K中可以設(shè)置“physical實(shí)際的”被試設(shè)備。該模塊可以從OMICRON --------------------------

42、-------------------------------------------------------------------------------------------- 注1：一個(gè)“physical（實(shí)際的）”的被試設(shè)備可以是一個(gè)保護(hù)繼電器或者測量表計(jì)。單詞“physical（實(shí)際的）”意思是為了讓大家注意這樣一個(gè)事實(shí)，這是一個(gè)真實(shí)的被試設(shè)備，而不是軟件模塊中的模擬命名。 Control Center中或者每一個(gè)單獨(dú)的試驗(yàn)?zāi)K中選定。 本部分提供關(guān)于被試設(shè)備的通用信息。對于如何設(shè)置一個(gè)被試設(shè)備，請參考OMICRON Control Center或者任意試驗(yàn)?zāi)K的在線幫助系

43、統(tǒng)。 要了解有關(guān)被試設(shè)備本身的更多詳細(xì)信息，請參考制造廠的使用手冊。 圖4-1：在在線幫助中進(jìn)入有關(guān)被試設(shè)備設(shè)置的信息 4.1 啟動(dòng)被試設(shè)備的設(shè)定 被試設(shè)備的設(shè)定可以從OMICRON Control Center或者一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K啟動(dòng)。 4.1.1 從OMICRON Control Center啟動(dòng) l 要插入一個(gè)新的被試設(shè)備設(shè)置，點(diǎn)擊被試設(shè)備圖標(biāo)或者選擇“Insert|Test Object…”； l 要在瀏覽欄（View|Navigation Map）里打開一個(gè)已存在的被試設(shè)備，點(diǎn)擊窗口左邊的它的索引； l 在清單列表中打開已存在的被試設(shè)備（View|List View），在

44、列表中雙擊它的索引； l 一個(gè)試驗(yàn)文檔的報(bào)告預(yù)覽（View|Report View）也包括指向被試設(shè)備的索引，也可以由它來啟動(dòng)。試驗(yàn)文檔中的索引就象圖4-2所示，既有可編輯的信息也有一個(gè)圖標(biāo)注1。 圖4-2：試驗(yàn)文檔報(bào)告視圖中的被試設(shè)備（圖標(biāo)形式和文本形式） 4.1.2 從一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K啟動(dòng) 要打開被試設(shè)備，點(diǎn)擊被試設(shè)備圖標(biāo)或者選擇“Parameters|Test Object…（參數(shù)|被試設(shè)備…）”。 ----------------------------------------------------------------------------------------

45、------------------------------ 注1：要改變一個(gè)設(shè)備是以文字形式還是圖標(biāo)形式出現(xiàn)，用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊設(shè)備并選擇設(shè)備屬性，點(diǎn)擊“View（視圖）”選項(xiàng)卡，并設(shè)定所需的選項(xiàng)。 4.2 使用一個(gè)被試設(shè)備 推薦從OMICRON Control Center試驗(yàn)文檔中以“嵌入模式Embedded mode”使用被試設(shè)備。在這種方式下，多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K可以使用統(tǒng)一被試設(shè)備定義。 圖4-3顯示了已嵌入一個(gè)試驗(yàn)文檔的被試設(shè)備模塊和一個(gè)硬件設(shè)置模塊。該圖演示了試驗(yàn)?zāi)K如何進(jìn)入一個(gè)（通用的）被試設(shè)備定義。 圖4-3：嵌入一個(gè)試驗(yàn)文檔的被試設(shè)備 圖4-4顯示了一個(gè)虛構(gòu)的應(yīng)用的列

46、表示圖，該應(yīng)用可以對同一個(gè)被試設(shè)備實(shí)施差動(dòng)繼電器試驗(yàn)。被試設(shè)備名稱位于第一行。任何時(shí)候被試設(shè)備做了一個(gè)改變，所有下屬的試驗(yàn)?zāi)K都能使用這個(gè)定義。 圖4-4：列表顯示被試設(shè)備和使用該定義的數(shù)個(gè)試驗(yàn)?zāi)K 4.3 被試設(shè)備的設(shè)定 被試設(shè)備參數(shù)的對話框如圖4-5所示對于所有的OMICRON試驗(yàn)?zāi)K施工用的。 如果被試設(shè)備有一個(gè)已定義的RIO文件（OMICRON繼電器接口文件），設(shè)置過程將會很簡單，因?yàn)橹灰斎胗脩舳x的名字和位置即可。 圖4-5：被試設(shè)備裝置設(shè)定的界面 被試設(shè)備的數(shù)據(jù)包括：被試設(shè)備的名稱，它的制造廠商，裝置型式，安裝位置和系列號。在大型的安裝工程中，知道變電

47、站和安裝間隔的名稱和位置對于區(qū)分和識別許多相近被試設(shè)備非常有幫助。 圖4-6：作為被試設(shè)備參數(shù)一部分的功能 圖4-6顯示了被試設(shè)備參數(shù)的功能選項(xiàng)卡。這里顯示可以選擇的試驗(yàn)?zāi)K的列表，試驗(yàn)?zāi)K需要輸入附加的數(shù)據(jù)和特定的設(shè)定值。選擇被試設(shè)備具有的功能。當(dāng)選擇一個(gè)模塊并點(diǎn)擊“Edit編輯”時(shí)，模塊自動(dòng)啟動(dòng)。這里，可以輸入功能的特定設(shè)定值。 5. 設(shè)定試驗(yàn)硬件Setting up the Test Hardware OMICRON Test Universe軟件允許的試驗(yàn)類型取決于在使用的試驗(yàn)硬件。 一個(gè)硬件設(shè)置模塊（Hardware Configuration module）是

48、用于在OMICRON試驗(yàn)?zāi)K中定義試驗(yàn)硬件的。這個(gè)軟件模塊可以從OMICRON Control Center，每一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K和試驗(yàn)文檔（如果以插入試驗(yàn)?zāi)K）中啟動(dòng)。 本部分提供關(guān)于硬件設(shè)置的通用信息。對于如何設(shè)置試驗(yàn)硬件的特定功能，請參見OMICRON Control Center或任何試驗(yàn)?zāi)K的在線幫助。 圖5-1：進(jìn)入硬件設(shè)置的在線幫助信息 要了解關(guān)于試驗(yàn)硬件本身更詳細(xì)的信息，參見硬件用戶手冊（比如，CMC156用戶手冊，CMA156用戶手冊，等等）。 5.1 啟動(dòng)硬件設(shè)置 硬件設(shè)置可以從OMICRON Control Center或一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K中啟動(dòng)。

49、 5.1.1 從OMICRON Control Center中啟動(dòng) l 要插入一個(gè)新的硬件設(shè)置，點(diǎn)擊硬件設(shè)置圖標(biāo)或者選擇“Insert|Hardware Configuration（插入|硬件設(shè)置）”； l 要在瀏覽欄（View|Navigation Map）里打開一個(gè)已存在的硬件設(shè)置，點(diǎn)擊窗口左邊的它的索引； l 在清單列表中打開已存在的硬件設(shè)置（View|List View），在列表中雙擊它的索引； l 一個(gè)試驗(yàn)文檔的報(bào)告預(yù)覽（View|Report View）也包括指向硬件設(shè)置的索引，也可以由它來啟動(dòng)。試驗(yàn)文檔中的索引就象圖4-2所示，既有可編輯的信息也有一個(gè)圖標(biāo)注1。 圖5-

50、2：一個(gè)試驗(yàn)文檔報(bào)告中的硬件設(shè)置 5.1.2 從一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K啟動(dòng) 要打開一個(gè)硬件設(shè)置，點(diǎn)擊硬件設(shè)置圖標(biāo)或者選擇“Parameter|Hardware Configuration…（參數(shù)|硬件設(shè)置…）”。 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注1：要改變一個(gè)設(shè)備是以文字形式還是圖標(biāo)形式出現(xiàn)，用鼠標(biāo)右鍵點(diǎn)擊設(shè)備并選擇設(shè)備屬性，點(diǎn)擊“View（視圖）”選項(xiàng)卡，并設(shè)定所需的選項(xiàng)。

51、 5.2 通用（Global）的硬件設(shè)置 一個(gè)通用的硬件設(shè)置文件所定義的硬件設(shè)置，可以用于一個(gè)OCC試驗(yàn)文檔中的數(shù)個(gè)試驗(yàn)?zāi)K。這些設(shè)置反映實(shí)際的硬件構(gòu)成，及在CMC試驗(yàn)裝置和被試設(shè)備之間的物理連接。 圖5-3顯示了嵌入一個(gè)試驗(yàn)文檔的硬件設(shè)置，該試驗(yàn)文檔用于OCC（OMICRON Control Center）。它描述了試驗(yàn)?zāi)K如何進(jìn)入通用硬件設(shè)置模塊，同時(shí)建立局部的硬件設(shè)置文件。 圖5-3：在一個(gè)試驗(yàn)文檔中的通用和局部硬件設(shè)置 相同的硬件設(shè)置不僅可以用于建立通用和局部設(shè)置，而且可以用于在試驗(yàn)?zāi)K運(yùn)行于單獨(dú)模式（Stand-alone Mode）時(shí)設(shè)置硬件。 在下列項(xiàng)目中做出區(qū)分：

52、 l 被試設(shè)備上端子的名稱； l 顯示的在試驗(yàn)硬件和被試設(shè)備之間的信號名稱；和 l CMC試驗(yàn)裝置的輸入和輸出。 通常，在設(shè)置對話框中每一個(gè)選項(xiàng)卡有一個(gè)連接端子的欄目。在這里可以輸入被試設(shè)備的端子。顯示的名稱可以用于為這種連接提供更為有意義的名稱。經(jīng)常出現(xiàn)的顯示名稱詩次對話框和試驗(yàn)報(bào)告。 設(shè)置的對話框選項(xiàng)卡提供表格，可以將用戶定義的名稱（顯示名稱）分配給試驗(yàn)裝置的實(shí)際輸入和輸出口。每一個(gè)輸入信號只能設(shè)置給CMC/CMA的一個(gè)端口，反之亦然。如果被試設(shè)備與這些端口之間的連接線不同，邏輯連接可以被用來改變對應(yīng)關(guān)系，而不必改變CMC前面板上的實(shí)際連線注1。 ----------------

53、------------------------------------------------------------------------------------------------------ 注1：如果連接端子的名稱和顯示名稱不是由用戶定義的，顯示名稱將被設(shè)定為有意義的默認(rèn)值。因此，這些名稱通過列舉電壓和電流三相輸出來產(chǎn)生，它生成諸如V(1)-1，V(1)-2等等。對于開關(guān)量/模擬量輸入，開關(guān)量輸出，模擬量直流輸入等等，生成的名稱是輸入/輸出的列舉。 圖5-4：連接端子和顯示名稱的示意圖 試驗(yàn)?zāi)K所需的邏輯信號（試驗(yàn)?zāi)K輸出信號或試驗(yàn)?zāi)K輸入信號）在試驗(yàn)?zāi)K的“

54、局部”硬件設(shè)置中進(jìn)行設(shè)定。然而，如果一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K是以單獨(dú)模式運(yùn)行或者在試驗(yàn)?zāi)K中沒有通用的硬件設(shè)置，所有的信息都不得不在試驗(yàn)?zāi)K的硬件設(shè)置中提供。 5.3 通用的硬件設(shè)置舉例 假定在一個(gè)單個(gè)的試驗(yàn)文檔中要進(jìn)行一個(gè)過流繼電器和一個(gè)差動(dòng)繼電器的試驗(yàn)： 圖5-5：控制中心文件（列表示圖） 列表的第一欄是“通用”的硬件設(shè)置?！帮@示名稱Display Name”是在試驗(yàn)裝置和被試設(shè)備的“連接端子Connection Terminal”之間的信號名稱。 圖5-6：在控制中心中的通用硬件設(shè)置 對于“過流Overcurrent”，試驗(yàn)過流繼電器所需的硬件設(shè)置中的“試驗(yàn)?zāi)K輸出信號Test Mo

55、dule Output Signal”（邏輯信號logical signal）要求在顯示名稱一欄輸入一個(gè)有意義的名稱。 圖5-7：局部硬件設(shè)置（在過流模塊中） 圖5-8：局部硬件設(shè)置（在差動(dòng)模塊中） 只有“試驗(yàn)?zāi)K輸出信號Test Module Output Signal”可以在每一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K中進(jìn)行設(shè)置。選擇菜單只允許選擇單個(gè)試驗(yàn)?zāi)K可用的信號。顯示名稱（Display Name）和連接端子（Connection Terminal）欄只能在通用硬件設(shè)置中進(jìn)行編輯。 5.4 硬件設(shè)置對話框 這一部分解釋了在硬件設(shè)置對話框中每一個(gè)選項(xiàng)卡的用途。 對于一個(gè)選項(xiàng)卡特定項(xiàng)目的信息

56、，請使用與上下文關(guān)聯(lián)的幫助。（點(diǎn)擊對話框右上角標(biāo)題框內(nèi)的問題圖標(biāo)。然后點(diǎn)擊對話框中選型。） 5.4.1 通用選項(xiàng)卡The General Tab 通用（General）選項(xiàng)卡中設(shè)定將要使用的CMC試驗(yàn)硬件。附加的硬件，比如放大器也可以進(jìn)行設(shè)定。 圖5-9：通用選項(xiàng)卡 （1）圖5-9 選擇試驗(yàn)硬件（CMC/Amplifier） （2）圖5-9 設(shè)定選定試驗(yàn)硬件的輸出。（參見圖5-10“輸出設(shè)置詳細(xì)資料的對話框”） （3）圖5-9 顯示定義的設(shè)置。 圖5-10顯示的對話框是在點(diǎn)擊圖5-9中的“詳細(xì)資料Detail”按鈕打開的。 5-10：輸出設(shè)置詳細(xì)資料的對話框 （1）

57、圖5-10 列出可能的設(shè)置。 （2）圖5-10 說明選定的設(shè)置的輸出接線方式。 5.4.2 模擬輸出選項(xiàng)卡The Analog Output Tab 模擬量輸出選項(xiàng)卡用于定義所有的模擬量輸出。這些取決于CMC的硬件設(shè)置，也就是說，對于CMC56、CMC156和CMC256是不相同的。 圖5-11：模擬量輸出選項(xiàng)卡 （1） 圖5-11 顯示的名稱（Display Name）是在試驗(yàn)裝置連接口與被試設(shè)備端口的連接的定義。這個(gè)名稱只能在通用的硬件設(shè)置中進(jìn)行改變。（參見5.2部分“通用硬件設(shè)置”）注1。 （2） 圖5-11 （3） 圖5-11 可以用鼠標(biāo)左鍵點(diǎn)

58、擊建立一個(gè)連接。右鍵點(diǎn)擊可以打開一個(gè)菜單，允許增加、插入、或刪除一個(gè)端口，也即表格中的一行。接線只有在通用硬件設(shè)置中進(jìn)行。（參見5.2部分“通用硬件設(shè)置”）。 5.4.3 開關(guān)量/模擬量輸入選項(xiàng)卡The Binary/Analog Inputs Tab 開關(guān)量/模擬量輸入選項(xiàng)卡用于設(shè)置如何使用開關(guān)量和模擬量輸入。這取決于CMC試驗(yàn)裝置的硬件。 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注1

59、：如果顯示的名稱不是由用戶定義的，它們將被以有意義的默認(rèn)名稱命名。對于這種情況，這些名稱將通過枚舉三相電壓和三相電流來產(chǎn)生。 圖5-12：開關(guān)量/模擬量輸入選項(xiàng)卡 （1） 圖5-12 帶有Enerlyzer（能量分析）選項(xiàng)的CMC256試驗(yàn)裝置的開關(guān)量輸入通道可以被設(shè)置成模擬量輸入。這樣，它們的功能可以在模擬電壓輸入、模擬電流輸入、開關(guān)量輸入和計(jì)數(shù)器輸入之間切換。 所有其它的CMC試驗(yàn)裝置只允許在開關(guān)量輸入和計(jì)數(shù)器輸入之間切換。 （2） 圖5-12 驗(yàn)證這一欄為無電壓開關(guān)量輸入或計(jì)數(shù)器輸入。 （3） 圖5-12 電壓感應(yīng)的開關(guān)量輸入或計(jì)數(shù)器輸入的額定電壓，或者模擬電壓或模

60、 擬電流輸入的額定值范圍。 （4） 圖5-12 電流輸入的箝位電壓變比（V/A）。 （5） 圖5-12 開關(guān)量輸入或計(jì)數(shù)器輸入的門檻電壓。 （6） 圖5-12 顯示的名字（Display Name）是在試驗(yàn)硬件和被試設(shè)備的連接端子（Connection Terminal）之間的信號的名字。 5.4.4 開關(guān)量輸出選項(xiàng)卡The Binary Outputs Tab 開關(guān)量輸出選項(xiàng)卡用于定義如何使用這些輸出。這取決于CMC試驗(yàn)裝置的硬件。 圖5-13：開關(guān)量輸出選項(xiàng)卡 （1） 圖5-13 開關(guān)量輸出設(shè)置； （2） 圖5-13 晶體管輸出設(shè)置注1； （3）

61、圖5-13 顯示的名字（Display Name）是在試驗(yàn)硬件和被試設(shè)備的連接端子（Connection Terminal）之間的信號的名字。 5.4.5 直流模擬輸入選項(xiàng)卡The DC Analog Inputs Tab DC模擬輸入選項(xiàng)卡設(shè)置DC輸入如何被使用。 圖5-14：直流模擬輸入選項(xiàng)卡 ---------------------------------------------------------------------------------------------------------------------- 注1：CMC56試驗(yàn)裝置沒有晶體管輸出。CMC56

62、試驗(yàn)裝置如果其序號等于或高于DAxxxx，可以被升級。 （1） 圖5-14 對于CMC256，電流輸入通道的輸入范圍可以設(shè)定（+20mA或者+1mA）； （2）圖5-14 顯示的名字（Display Name）是在試驗(yàn)硬件和被試設(shè)備的連接端子（Connection Terminal）之間的信號的名字。 6. OMICRON的控制中心（OCC） OMICRON Control Center（OCC）同時(shí)是一個(gè)試驗(yàn)管理器，文字處理器，和程序編輯器。OCC是每一個(gè)試驗(yàn)文檔的起始點(diǎn)，并能擴(kuò)展每一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K的用處。 6.1 試驗(yàn)文檔中的試驗(yàn)?zāi)K 一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K著重于保護(hù)或測量

63、裝置試驗(yàn)的一個(gè)方面。它可以被插入一個(gè)試驗(yàn)文檔或者單獨(dú)運(yùn)行。雙擊插入一個(gè)試驗(yàn)文檔的試驗(yàn)?zāi)K將啟動(dòng)試驗(yàn)?zāi)K的應(yīng)用軟件。 圖6-1：一個(gè)包含多個(gè)被試設(shè)備、硬件設(shè)置和 試驗(yàn)?zāi)K的OCC試驗(yàn)文檔 圖6-1描述了一個(gè)由OCC使用的試驗(yàn)文檔。它顯示了一個(gè)被試設(shè)備的單一定義可以被多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K使用。同樣，一個(gè)硬件設(shè)置的通用定義也可以由多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K使用，但仍然保持進(jìn)行硬件設(shè)置局部定義的能力。 特定的試驗(yàn)設(shè)定值通過單個(gè)應(yīng)用的界面進(jìn)行。試驗(yàn)過程既可以從試驗(yàn)?zāi)K也可以從OCC開始。在評價(jià)完試驗(yàn)結(jié)果（合格/不合格）之后，試驗(yàn)?zāi)K進(jìn)行的步驟可以被定義。 6.1.1 在單個(gè)試驗(yàn)文檔中的多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K 當(dāng)生成全面

64、的完整試驗(yàn)，在一個(gè)OCC試驗(yàn)文檔中可以為進(jìn)行的每一種試驗(yàn)多次嵌入試驗(yàn)?zāi)K。每次嵌入一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K，它的屬性可以被定義，這樣才可以對被試設(shè)備的不同方面和功能進(jìn)行試驗(yàn)。 在一個(gè)OCC試驗(yàn)文檔中多次嵌入同一個(gè)試驗(yàn)?zāi)K，會有助于試驗(yàn)，也就是說，以相似（但不必完全一致）的設(shè)定值試驗(yàn)被試設(shè)備的所有故障回路。 6.1.2 在單個(gè)試驗(yàn)文檔中的多個(gè)被試設(shè)備 一個(gè)OCC試驗(yàn)文檔并不局限于一個(gè)被試設(shè)備（例如，保護(hù)裝置或繼電器）。 例如，它可以被用于對同一塊繼電器屏上的所有保護(hù)裝置進(jìn)行全面的試驗(yàn)。在一個(gè)試驗(yàn)文檔中插入獨(dú)立的被試設(shè)備可以對整個(gè)繼電器屏生成完整的試驗(yàn)報(bào)告。 圖6-1顯示了有多個(gè)被試設(shè)備的一個(gè)試驗(yàn)文

65、檔。有關(guān)被試設(shè)備的更多信息請參見第4部分“設(shè)定被試設(shè)備”。 6.1.3 在單個(gè)試驗(yàn)文檔中的多個(gè)硬件設(shè)置 一個(gè)OCC試驗(yàn)文檔并不局限于一個(gè)硬件設(shè)置對象。一個(gè)通用的硬件設(shè)置可以被多個(gè)試驗(yàn)?zāi)K使用，有時(shí)候試驗(yàn)需要有新的連到試驗(yàn)裝置的試驗(yàn)接線，或者其它的試驗(yàn)硬件。這樣，需要一個(gè)新的硬件設(shè)置?？梢栽谶\(yùn)行試驗(yàn)文檔的時(shí)候，為此原因在此處暫停。 圖6-1顯示了一個(gè)具有多個(gè)試驗(yàn)硬件設(shè)置的試驗(yàn)文檔的例子。有關(guān)硬件設(shè)置更多信息可以參見第5部分“設(shè)定試驗(yàn)硬件”。 6.1.4 在各個(gè)區(qū)域的變量信息 每一個(gè)試驗(yàn)文檔通常有與試驗(yàn)報(bào)告有關(guān)的信息，他們必須保持最新。有時(shí)候這些信息可以從系統(tǒng)或用戶文件中獲得。這

66、些信息可以用域來插入試驗(yàn)文檔。 OCC支持兩種型式的域： l System Field 系統(tǒng)域 包括當(dāng)前日期，時(shí)間，創(chuàng)建日期，最近一次修改日期，試驗(yàn)日期，打印日期，等等。 l User-Defined Field 用戶定義域 包括公司名稱，文檔標(biāo)題，等等。 用戶定義域通過“File |Properties（文件|屬性）”生成。這些域通過使用“Insert |Field（插入|域）”插入文檔。“View |Option（視圖|選項(xiàng)）”用于設(shè)定通用信息，諸如輸出相名稱等等。 6.2 定義報(bào)告 “Test |Report（試驗(yàn)|報(bào)告）”打開一個(gè)報(bào)告設(shè)定的小對話框。一個(gè)下拉式菜單設(shè)定試驗(yàn)文檔是短格式還是長格式，它將說明文檔是否詳細(xì)。 “Define（定義）”按鈕打開一個(gè)對話框，在這里報(bào)告的內(nèi)容可以被設(shè)定。報(bào)告的不同部分可以通過選擇或不選擇適當(dāng)?shù)倪x擇框來被確定包括或不包括。 可以通過一個(gè)下拉式菜單選擇已存在的試驗(yàn)文檔模板。點(diǎn)擊“Add（添加）”，打開一個(gè)對話框，在一個(gè)已有的模板基礎(chǔ)上定義一個(gè)新的模板。點(diǎn)擊“Delete（刪除）”刪除選中的模板。 6.2.1 試驗(yàn)文檔