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1、OST測試機(jī)及其編程基礎(chǔ)培訓(xùn),目錄,一、目的 二、適用范圍 三、OST技術(shù)指標(biāo) 四、操作及作業(yè)指南 五、測試指令,一、目的,對初學(xué)人員進(jìn)行OST測試機(jī)培訓(xùn)的教材，使初學(xué)人員增加對OST的了解，并可以簡單地正確規(guī)范地使用OST。,二、適用范圍,本作業(yè)指導(dǎo)書針對初學(xué)此設(shè)備的工程技術(shù)人員和測試生產(chǎn)線相關(guān)非工程技術(shù)人員以及相關(guān)品質(zhì)人員。,三、OST技術(shù)指標(biāo),1.電流的驅(qū)動能力：最大500UA，驅(qū)動精度為+/-1% of value +/- 5uA 2. 最大支持的工位數(shù)： 1個工位 3. 通道數(shù)：64 4.可測IC品種：腳位是64PIN以內(nèi)的所有IC,四、操作及作業(yè)指南,1. OST系統(tǒng)構(gòu)成,該測試機(jī)
2、只有64個通道，通過測試機(jī) 上面的兩個34Pin的牛頭角引出來 牛頭角的定義如下：,2. 系統(tǒng)安裝 2.1 把檔案復(fù)制到C:OST-1B 2.2 安裝PCI驅(qū)動程式 安裝 C: OST-1B PCIPciSdk.inf (按滑鼠右鍵可以找到下列圖示),2.3 安裝軟件驅(qū)動程式 執(zhí)行 C: OST-1B PCIRedistMemAccDrvSetup.exe 2.4 電腦重新開機(jī) 2.5 安裝驅(qū)動程式,2.6執(zhí)行 C: OST-1BOST1B.exe, 執(zhí)行 Diag 檢查Diagnostic 結(jié)果,3.OST軟件操作方法 3.1 數(shù)據(jù)顯示窗口 顯示測試結(jié)果,Datalog 工作模式 - “Lo
3、g All” or “Log Fail Only”,儲存 datalog 資料到檔案,點(diǎn)擊save出現(xiàn)存儲對話框,3.2工程模式 編輯測試程序 切換到工程模式有密碼保護(hù)，密碼為5755,直接編寫測試指令，直接執(zhí)行,不用寫測試指令，也可以直接模擬測試指令,4.量產(chǎn)設(shè)定步驟 4.1.執(zhí)行主程式 OST1B.EXE,4.2開啟測試程式 *.pln, 并確認(rèn)右上角顯示程式資料,4.3. 按下 TTL 鍵然后 按下 Run 鍵,五、測試指令,1 OSBIN 在窗體處定義bin的名稱 Example OSBIN1 = PASS; OSBIN2 = OPEN_FAIL; OSBIN3 = SHORT_FAI
4、L; . OSBIN8 = “XXX_FAIL”;,2 TEST_MODE Select parallel or series mode for test commands.. Example 選擇并聯(lián)或串聯(lián)的方式測試命令 TEST_MODE(PARALLEL); or TEST_MODE(SERIES);,3 GND_MODE Select AUTO or USER mode for ground control. 選擇自動或用戶模式 Example GND_MODE(AUTO); or GND_MODE(USER); GND_CONNECT(PIN = 14,8,9);,4 GND_CON
5、NECT Force the selected pins to ground. 選定的引腳接地。 Example GND_MODE(USER); GND_CONNECT(PIN = 14,8,9);,5 OPEN_TEST Perform open test for those NC pins. 對空封管腳進(jìn)行開路測試。 Parameters : PIN : 164. FI : -500.0uA 500.uA VLIMIT : -12.0V +12.0V fail BIN: BIN1 BIN8 Example OPEN_TEST( PIN = 1012,14,24; FI= -100.0uA;
6、 VLIMIT=-2.0V; BIN2 );,6 SHORT_TEST Perform short test between those selected pins and programmed ground pins. 對與地短接的管教執(zhí)行短路測試。 Parameters : PIN : 164. FI : -500.0uA 500.uA VLIMIT : -12.0V +12.0V fail BIN: BIN1 BIN8 Example SHORT_TEST( PIN =14,8,9; FI= -100.0uA; VLIMIT=-0.3V; BIN3 );,7 CONTINUITY_TES
7、T Parameters : PIN : 164. FI : -500.0uA 500.uA VLL : -12.0V +12.0V VLH : -12.0V +12.0V (VLH must VLL) fail BIN: BIN1 BIN8 Example CONTINUITY_TEST( PIN = 57,1623; FI= -100.0uA; VLL=-1.5V; VLH=-0.3V; BIN8 ); 依次給5-7,16-13腳拉-100.0uA電流，測電壓，電壓在-1.5V-0.3V之間否則為bin8,8 DELAY Parameters :延時 delay : 0 3.355 Sec Example DELAY(10.0mS);,9 MEAS_DELAY Parameters : delay : 0 3.355 Sec Example MEAS_DELAY = 10.0mS;,10 BIN Parameters : bin : 18 or BIN1BIN8 Example BIN(BIN1);,END THANKS,
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